检测水滴

检测水滴,第1张

用于检测水滴冻结温度的冷台   

申请专利号 CN200420003594.3  

专利申请日 2004.02.17  

名称 用于检测水滴冻结温度的冷台   

公开(公告)号 CN2674444

公开(公告)日 2005.01.26  

类别 物理

颁证日  

优先权

申请(专利权) 中国气象科学研究院  

地址 100081 北京市海淀区中关村南大街46号 

发明(设计)人 杨绍忠酆大雄  

国际申请

国际公布

进入国家日期  

专利代理机构 北京泛华伟业知识产权代理有限公司  

代理人 王凤华  

摘要

本实用新型涉及人工影响天气实验用的用于检测水滴冻结温度的冷台,包括由上下两个散热槽组成冷台箱体,和在两个散热槽之间设置一绝热材料支撑形成腔,该腔内的两个散热槽面上用导热硅脂分别贴粘各由4块以上串联的半导体制冷组件构成上下制冷板,制冷板的冷面上用导热硅脂分别贴粘各由4块以上串联的半导体制冷组件组成的冻滴感应板;冻滴感应板冷面相对,用导热硅脂分别粘贴厚1mm的镀烙紫铜板;在下方铜板的冷面上,放置一温度感应元件用来感应线性降温,作为测温仪的输入;制冷上板与冻滴感应上板之间设置另一温度感应元件作为控温仪的输入;两个散热槽内盛有水和乙二醇的混合物组成的冷媒,槽壁上开有液体进出口;制冷上下板串联后在并联到温度控制回路中。  

主权项

1.一种检测水滴冻结温度用的冷台,包括冷台箱体(1)和温度测量仪 (5);其特征在于:所述的冷台箱体(1)由上下两个金属散热槽(8、8′),和在两个散热槽之间设置一绝热材料支撑(9)形成腔,该腔内的两个散热槽 (8、8′)相对面上用导热硅脂分别贴粘各由(4)块以上串联的半导体制冷组件组成的上下制冷板(10、10′),制冷板(10、10′)的冷面相对,用导热硅脂分别贴粘(4)块以上串联的半导体制冷组件组成的冻滴感应板(11、11 ′);两块冻滴感应板(11、11′)的冷面相对,用导热硅脂分别粘贴铜板,两者之间形成容纳水滴的冷腔(12);铜下板的冷面上贴放温度感应元件(13 ′);制冷上板(10)与冻滴感应上板(11)之间设置一温度感应元件(13);两个散热槽(8、8′)内盛有水和乙二醇的混合物组成的冷媒(14),槽壁上开有液体进出口(3);上下制冷板并联到温度控制回路中。  

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⑴生物:种子、花粉、细菌……

⑵医学:血球、病毒……

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⑷材料 :陶瓷、高分子、粉末、金属、金属夹杂物、环氧树脂……

⑸化学、物理、地质、冶金、矿物、污泥(杆菌) 、机械、电机及导电性样品,如半导体(IC、线宽量测、断面、结构观察……)电子材料等。

扫描电子显微在新型陶瓷材料显微分析中的应用

1 显微结构的分析

在陶瓷的制备过程中,原始材料及其制品的显微形貌、孔隙大小、晶界和团聚程度等将决定其最后的性能。扫描电子显微镜可以清楚地反映和记录这些微观特征,是观察分析样品微观结构方便、易行的有效方法,样品无需制备,只需直接放入样品室内即可放大观察;同时扫描电子显微镜可以实现试样从低倍到高倍的定位分析,在样品室中的试样不仅可以沿三维空间移动,还能够根据观察需要进行空间转动,以利于使用者对感兴趣的部位进行连续、系统的观察分析。扫描电子显微镜拍出的图像真实、清晰,并富有立体感,在新型陶瓷材料的三维显微组织形态的观察研究方面获得了广泛地应用。

由于扫描电子显微镜可用多种物理信号对样品进行综合分析,并具有可以直接观察较大试样、放大倍数范围宽和景深大等特点,当陶瓷材料处于不同的外部条件和化学环境时,扫描电子显微镜在其微观结构分析研究方面同样显示出极大的优势。主要表现为: ⑴力学加载下的微观动态 (裂纹扩展)研究 ;⑵加热条件下的晶体合成、气化、聚合反应等研究 ;⑶晶体生长机理、生长台阶、缺陷与位错的研究; ⑷成分的非均匀性、壳芯结构、包裹结构的研究; ⑸晶粒相成分在化学环境下差异性的研究等。

2 纳米尺寸的研究

纳米材料是纳米科学技术最基本的组成部分,可以用物理、化学及生物学的方法制备出只有几个纳米的“颗粒 ”。纳米材料的应用非常广泛,比如通常陶瓷材料具有高硬度、耐磨、抗腐蚀等优点,纳米陶瓷在一定的程度上也可增加韧性、改善脆性等,新型陶瓷纳米材料如纳米称、纳米天平等亦是重要的应用领域。纳米材料的一切独特性主要源于它的纳米尺寸,因此必须首先确切地知道其尺寸,否则对纳米材料的研究及应用便失去了基础。纵观当今国内外的研究状况和最新成果,该领域的检测手段和表征方法可以使用透射电子显微镜、扫描隧道显微镜、原子力显微镜等技术,但高分辨率的扫描电子显微镜在纳米级别材料的形貌观察和尺寸检测方面因具有简便、可 *** 作性强的优势被大量采用。另外如果将扫描电子显微镜与扫描隧道显微镜结合起来,还可使普通的扫描电子显微镜升级改造为超高分辨率的扫描电子显微镜。图 2所示是纳米钛酸钡陶瓷的扫描电镜照片,晶粒尺寸平均为 20nm。

3 铁电畴的观测

压电陶瓷由于具有较大的力电功能转换率及良好的性能可调控性等特点在多层陶瓷驱动器、微位移器、换能器以及机敏材料与器件等领域获得了广泛的应用。随着现代技术的发展,铁电和压电陶瓷材料与器件正向小型化、集成化、多功能化、智能化、高性能和复合结构发展,并在新型陶瓷材料的开发和研究中发挥重要作用。铁电畴 (简称电畴)是其物理基础,电畴的结构及畴变规律直接决定了铁电体物理性质和应用方向。电子显微术是观测电畴的主要方法,其优点在于分辨率高,可直接观察电畴和畴壁的显微结构及相变的动态原位观察 (电畴壁的迁移)。

扫描电子显微镜观测电畴是通过对样品表面预先进行化学腐蚀来实现的,由于不同极性的畴被腐蚀的程度不一样,利用腐蚀剂可在铁电体表面形成凹凸不平的区域从而可在显微镜中进行观察。因此,可以将样品表面预先进行化学腐蚀后,利用扫描电子显微镜图像中的黑白衬度来判断不同取向的电畴结构。对不同的铁电晶体选择合适的腐蚀剂种类、浓度、腐蚀时间和温度都能显示良好的畴图样。图 3是扫描电子显微镜观察到的 PLZT材料的 90°电畴。扫描电子显微镜 与其他设备的组合以实现多种分析功能。

在实际分析工作中,往往在获得形貌放大像后,希望能在同一台仪器上进行原位化学成分或晶体结构分析,提供包括形貌、成分、晶体结构或位向在内的丰富资料,以便能够更全面、客观地进行判断分析。为了适应不同分析目的的要求,在扫描电子显微镜上相继安装了许多附件,实现了一机多用,成为一种快速、直观、综合性分析仪器。把扫描电子显微镜应用范围扩大到各种显微或微区分析方面,充分显示了扫描电镜的多种性能及广泛的应用前景。

目前扫描电子显微镜的最主要组合分析功能有:X射线显微分析系统(即能谱仪,EDS),主要用于元素的定性和定量分析,并可分析样品微区的化学成分等信息;电子背散射系统 (即结晶学分析系统),主要用于晶体和矿物的研究。随着现代技术的发展,其他一些扫描电子显微镜组合分析功能也相继出现,例如显微热台和冷台系统,主要用于观察和分析材料在加热和冷冻过程中微观结构上的变化;拉伸台系统,主要用于观察和分析材料在受力过程中所发生的微观结构变化。扫描电子显微镜与其他设备组合而具有的新型分析功能为新材料、新工艺的探索和研究起到重要作用。


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