如何测量半导体激光器的偏振度

尽管激光市场受到、贸易战等外部因素的影响，但整体产业仍保持欣欣向荣的气象。多家企业仍在建制新厂、扩建或改建、优化工艺线等，这也对激光测试及老化设备提出了更高的要求。目前，国内外大功率半导体激光器泵浦源制作商为了提高输出功率需要使用偏振合束的技术方案，对半导体激光芯片的偏振度测试提出了强烈的需求，目前市面上激光器研制单位针对半导体激光芯片的偏振测试基本依靠简单搭建的独立仪器组合来完成，功能单一，使用 *** 作复杂，测试准确度和重复度差，测试效率低下，以致对偏振度测试成为了众多半导体激光器芯片和模组生产企业的产能瓶颈。为了解决行业测试痛点问题，日前深圳瑞波光电子有限公司的专业测试设备团队，在RB-CT1003X COS综合性能测试机的基础上，开发了带自动偏振测试功能的RB-CT1004X激光器测试设备系列，该型设备集成了LIV、光谱、远程发散角、偏振度自动测试功能，是目前市面上功能最全的半导体激光器测试设备，可广泛应用于激光器芯片、泵源研究院所、大学和生产制造企业，目前该RB-CT1004X系列设备刚一上市就已经获得国内多家半导体激光器制造商的订单，显示出业界对新型测试设备的强力认可和迫切需求。深圳瑞波光电子有限公司一直致力于为半导体激光器制作行业提供全面的、性价比高的测试解决方案，针对半导体激光器制作过程的关键环节，瑞波光电开发了成系列、自动化程度高的性能测试、老化设备。多年来基于用户角度深耕于半导体激光器测试、老化技术，瑞波光电的性能测试、老化设备广泛应用于海内外的光电企业，目前累计对外销售120台。其中RB-CT1003X系列的COS综合性能测试机，集成了LIV、光谱、远程发散角测试，因其功能齐全， *** 作简单广发应用于半导体激光器器件研制单位和生产企业，该系列设备装机量超过50台。1、新款RB-CT1004X系列设备主要功能和特点- 对贴片好的COS、C-mount、TO等封装器件做全面表征测试- 在特殊设计的脉冲电流或者CW模式下测试LIV特性、光谱特性、远场特性、偏振态特性- 可测试器件的COD特性- 电流范围宽：标准电流范围0-25A（可配置到0-0.5A，0-5A，0-40A）- 电流波形选择宽：50微秒脉冲宽度到连续电流

其电矢量垂直于入射平面的偏振光称为S偏振光或TE波，其电矢量平行于入射平面的偏振光称为P偏振光或TM波。

当光束入射到金属的表面上时，入射光和金属表面的法线所在的平面就是入射表面。 入射光波的电矢量可以分解为相位相互正交的两个偏振光分量。

扩展资料

特点：

已知TE波的电矢量垂直于入射平面（入射光的平面，法线）。

TM波的电矢量在入射平面中。

TE和TM波的电矢量彼此垂直（例如，TE在y处的x TM处），并且都垂直于波的传播方向（如上述示例中，传播方向为z方向） 。

可以看出，所谓的TE波和TM波没有本质上的不同，但是电矢量的方向是不同的。

而且，该方向必须由入射表面来描述。就是说，没有讨论一个波是TE，哪个波是TM远离特定入射表面。例如：波是反射中的TE波，当它传播到下一个反射面时，其电矢量可能不再垂直于新的辐射面，因此不再是TE波。

参考资料：百度百科-电磁波极化

---