何为半导体中替位杂质激活?

何为半导体中替位杂质激活?,第1张

一般来说通过离子注入方式实现参杂,工艺最后都有一个退火过程,一是为了重新完整由于高能离子注入导致的晶格损伤,其次是激活注入的离子。更详细的关于杂志激活的原理推荐看 Slilicon VLSI Technology, Fundamentals,Practice and Modeling,作者Jmaes D. Plummer等,中文译本也有的了,这本书可谓是IC工艺理论中的经典之作~

第一步:

首先从oppo reno手机的桌面找到并依次点击进入【设置】-【关于手机】。

第二步:

在关于手机中,找到“版本号”选项,然后连续快速点击【版本号】多次,之后就可以看到有开发者模式/usb调试模式已激活的提示。之后再次返回设置,再重新打开【其它设置】。

第三步:

最后在其它设置中此前隐藏的「开发者选项」就出现了,点击进入,并开启【开发者选项】,并将底部的【USB调试】开关打开就完成了。

第四步:

成功开启USB调试后,就可以用USB数据线将手机连接电脑,借助安卓助手就能够成功识别oppo reno手机进行相关 *** 作了

费米能级钉扎(Fermi Level Pinning) 是当前半导体科学和技术领域的一大热点。费米能级钉扎效应是半导体物理中的一个重要概念。本来半导体中的Fermi能级是容易发生位置变化的。例如,掺入施主杂质即可使Fermi能级移向导带底,半导体变成为n型半导体;掺入受主杂质即可使Fermi能级移向价带顶,半导体变成为p型半导体。但是,若Fermi能级不能因为掺杂等而发生位置变化的话,那么就称这种情况为费米能级钉扎效应。在这种效应起作用的时候,往半导体中即使掺入很多的施主或者受主,但不能激活(即不能提供载流子),故也不能改变半导体的型号,也因此难于通过杂质补偿来制作出pn结。产生费米能级钉扎效应的原因,与材料的本性有关。宽禁带半导体(GaN、SiC等)就是一个典型的例子,这种半导体一般只能制备成n型或p型的半导体,掺杂不能改变其型号(即Fermi能级不能移动),故称为单极性半导体。一般,离子性较强的半导体(如Ⅱ-Ⅵ族半导体,CdS、ZnO、ZnSe、CdSe)就往往是单极性半导体。这主要是由于其中存在大量带电缺陷,使得费米能级被钉扎住所造成的。正因为如此,采用GaN来制作发兰光的二极管时,先前就遇到了很大的困难,后来通过特殊的退火措施才激活了掺入的施主或受主杂质,获得了pn结——制作出了发兰色光的二极管。非晶态半导体也往往存在费米能级钉扎效应。制作出的非晶态半导体多是高阻材料,Fermi能级不能因掺杂而移动,这也是由于其中有大量缺陷的关系。此外,半导体表面态密度较大时也往往造成费米能级钉扎效应。这在M-S系统和MOS系统中起着重要的作用。


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