imr是什么意思

imr的意思为婴儿死亡率

婴儿死亡率（infant mortality rate,IMR）是指婴儿出生后不满周岁死亡人数同出生人数的比率。一般以年度为计算单位，以千分比表示。在婴儿死亡率较高的地方，也有用百分比表示的。婴儿死亡率是反映一个国家和民族的居民健康水平和社会经济发展水平的重要指标，特别是妇幼保健工作水平的重要指标。

婴儿死亡率与许多因素有关，如：医疗水平、医学常识、环境因素、新生儿体重、孕期长短、婴儿性别、习俗、喂养方式等等。

建国前，中国婴儿死亡率约200‰；建国后迅速下降，2000年为28.38‰；2008年为14.9‰；2017年为8.0‰  ；2018年为6.1‰  。2017年美国婴儿死亡率为5.7‰；2017年英国婴儿死亡率为3.7‰；2017年法国婴儿死亡率是3.5‰；2017年德国婴儿死亡率为3.1‰；2017年日本婴儿死亡率为1.9‰。2022年7月12日，我国婴儿死亡率从5.4‰下降到5.0‰。

四探针方块电阻（又叫薄膜电阻）测试仪是半导体制造中常用的检测仪器之一，用以测量半导体材料的电阻率和薄膜的方块电阻，同时达到测量半导体薄层材料的掺杂浓度和薄膜厚度、控制器件和集成电路性能的目的。

在此基础上发展起来的交流四探针方法，能够消除电接触区的热电势，但它对交流电流源和检测信号的交流放大器稳定性的要求极为严格，且仍存在接触稳定性问题。这些因素造成四探针法对于电阻值的微小变化不敏感，阻碍了仔细分析材料组织结构的微弱变化过程。

四探针测试技术

是用4根等间距配置的探针扎在半导体表面上，由恒流源给外侧的两根探针提供一个适当小的电流I，然后测量出中间两根探针之间的电压V，就可以求出半导体的电阻率。对于厚度为W（远小于长和宽）的薄半导体片，得到电阻率为ρ=ηW(V/I)，式中η是修正系数。

特别，对于直径比探针间距大得多的薄半导体圆片，得到电阻率为ρ= (π/ln2)W(V/I)= 4.532 W(V/I) [Ω-cm]，其中W用cm作单位。

以上内容参考：百度百科-四探针测试技术

1963年7月出生于江苏省扬州市；

1985年7月毕业于南京大学物理系半导体专业，获学士学位；

1988年7月毕业于中国科技大学物理系半导体专业，获硕士学位；

1995年3月毕业于日本东北大学材料科学研究所 (IMR)，获博士学位；

2000年晋升教授；

2003年获国家杰出青年科学基金；

2004年聘为教育部长江特聘教授

曾任日本东京大学产业技术研究所 (IIS) 客座研究员、东京大学先端科技研究中心(RCAST) 客座教授、 日本千叶大学电子学与光子学研究中心客座教授、日本产业技术综合研究所(AIST)访问教授，现为北京大学物理学院副院长、宽禁带半导体研究中心副主任。