对于半导体检测,虽然需要用于大规模生产、实验室、晶片等环节,但相关环节也比较复杂,但电气性能测试是基本环节,半导体器件或模块在研究开发、设计和生产过程中是必不可少的环节。
在电气性能测试环节中,电流测试方案是源测量单元(SMU)。SMU是一种具有电压输出和测量以及电流输出和测量功能的精密电源仪表。这种电压和电流的控制给你提供了通过欧姆定律计算电阻和功率的灵活性,它可以同时控制和测量电压和电流,主要为消费类电子产品、IC设计和验证以及其他实验室提供电气性能测试。
目前市场上有许多(SMU)厂家可以提供源测量单元,相关产品很多,但测试仪器越贵,测试精度越高,从某种意义上说,要掌握源测量单元(SMU),就必须了解产生误差的原因和减小误差的方法。
未来可期。国内半导体企业的整体实力还是不错的,目前对于芯片制造过程中最主要的设备光刻机,上海微电子已经取得了突破,首台国产的28nm沉浸式光刻机机也即将迎来组装下线,中微半导体在刻蚀机领域也取得了重大成就,外加上此次中电科突破的离子注入机技术,国产自主产业链也得到了进一步的完善。欢迎分享,转载请注明来源:内存溢出
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