TDO，TDI是相对芯片来说的吗

具有JTAG口的芯片都有如下JTAG引脚定义：

TCK——测试时钟输入；

TDI——测试数据输入，数据通过TDI输入JTAG口；

TDO——测试数据输出，数据通过TDO从JTAG口输出；

TMS——测试模式选择，TMS用来设置JTAG口处于某种特定的测试模式。

JTAG，它是Joint

Test

Action

Group缩写，是IEEE的标准规范，ARM7TDMI内部提供了3个JTAG型的扫描链，可以进行调试和配置嵌入式的ICE-RT逻辑。

JTAG仿真器也称为JTAG调试器，是通过ARM芯片上的JTAG边界扫描口进行调试的设备。JTAG仿真器比较便宜，连接比较方便。它可以通过现有的JTAG边界扫描与ARM

CPU核进行通信，属于完全非插入式调试。它无需目标存储器，不占用目标系统的任何端口。

JTAG

(Joint

Test

Action

Group)是1985年制定的检测PCB和IC芯片的一个标准，1990年被修改后成为IEEE的一个标准，即IEEE1149.1-1990。通过这个标准，可对具有JTAG接口的芯片的硬件电路进行边界扫描和故障检测。具有JTAG接口的芯片,相关JTAG引脚的定义为:TCK为测试时钟输入；TDI为测试数据输入，数据通过TDI引脚输入JTAG接口；TDO为测试数据输出，数据通过TDO引脚从JTAG接口输出；TMS为测试模式选择，TMS用来设置JTAG接口处于某种特定的测试模式；TRST为测试复位，输入引脚，低电平有效。

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