coupler,英文缩写为OC)亦称光电隔离器,简称光耦。光电耦合器以光为媒介传输电信号。它对输入、输出电信号有良好的隔离作用,所以,它在各种电
路中得到广泛的应用。目前它已成为种类最多、用途最广的光电器件之一。光耦合器一般由三部分组成:光的发射、光的接收及信号放大。输入的电信号驱动发光二
极管(LED),使之发出一定波长的光,被光探测器接收而产生光电流,再经过进一步放大后输出。这就完成了电—光—电的转换,从而起到输入、输出、隔离的
作用。由于光耦合器输入输出间互相隔离,电信号传输具有单向性等特点,因而具有良好的电绝缘能力和抗干扰能力。参考资料:百度百科。
TLP: Transmission Line Pulse,传输线脉冲发生器,是一种集成电路静电放电防护技术的研究测试手段。与传统的HBM、MM、CDM、IEC模型不同,传输线脉冲发生器发出的是静电模拟方波,而传统模式发出的则是RC-LC模式的脉冲波形,与之相对应的,传统的HBM等波形更直接的模拟了现实中的某种静电形式,而TLP通过调节上升沿和脉冲宽度,间接地模拟了这些静电脉冲形式的损伤能力和不同上升沿CLAMP触发能力。由于使用了方波,TLP可以通过每次施加一个脉冲,获得一个I-V点的方式,一直施加不同幅值的电流直到测量泄露电流(Leak)判定失效为止,即可获得完整的器件在ESD过程中的I-V曲线,而这种曲线,则可以用于集成电路ESD防护设计的仿真,达到集成电路ESD防护结构设计目的。同样由于使用了方波,还可以发现器件在ESD过程中的响应情况,包括开启过程、关断过程;由于一般器件开启时都有snapback问题,而这种问题对于超深亚微米器件是致命的,因此这种测试技术对用于解决CDM模型的ESD防护结构研究至关重要;同时,近期利用MOS特性设计的超快超低压开启CLAMP结构越来越重要,这种结构完全依赖MOS的栅极耦合电压,发现其关断特性,获得开启与关闭的良好平衡点,此测试技术的意义也非常重要。正是因为该设备的重要性,ESD/EOS会议ESD研究论文中,使用到该设备的论文达到了近80%[1]欢迎分享,转载请注明来源:内存溢出
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