①引入了准Fermi能级之后,就能够仿照采用Fermi-Drac统计来分析平衡载流子分布那样,来分析非平衡载流子的统计分布。若导带电子和价带空穴的准Fermi能级分别为Efn和Efp,则可以近似地表示出非平衡态载流子的所谓准Fermi分布函数为
fn(E)=1/{exp[(E-Efn)+1]}, fp(E)=1/{exp[(Efp-E)+1]}。
②同时,仿照平衡载流子浓度的表示,也可以直接给出非平衡状态时的总电子浓度n和非平衡状态时的总空穴浓度p的表示式为
n=no+Δn=Nc×exp[-(Ec-Efn)/kT], p=po+Δp=Nv×exp[-(Efp-Ev)/kT]。
总之,对于非平衡状态的半导体,没有统一的一条Fermi能级,但是可以认为导带和价带分别处于准平衡状态,则对于其中的非平衡电子和非平衡空穴,可以引入相应的电子准Fermi能级(Efn)和空穴准Fermi能级(Efp)来分别描述其分布状况。
③由非平衡载流子的浓度表示式,可以见到,准Fermi能级在能带中的位置即分别表征了总的电子和总的空穴的浓度大小:总的电子浓度n越大,Efn就越靠近导带底Ec;总的空穴浓度p越大,Efp就越靠近价带顶Ev。
在小注入情况下,对于非平衡态的n型半导体,其中电子是多数载流子,总的非平衡电子浓度与总的平衡电子浓度差不多,因此,这时电子的准Fermi能级与平衡态时系统的Fermi能级基本上是一致的,处于导带底附近;但是空穴——少数载流子的准Fermi能级却偏离平衡态时系统的Fermi能级较远,处于近价带顶附近。对于非平衡态的p型半导体,情况相反,空穴准Fermi能级与平衡态时系统的Fermi能级基本上是一致的,处于近价带顶附近;而电子的准Fermi能级是处于导带底附近。
④非平衡半导体中存在两条准Fermi能级,即电子的准Fermi能级和空穴的准Fermi能级;并且这两条准Fermi能级所分开的距离,与外加作用的强度有关(例如外加电压越大,它们分开的距离就越大)。若去除外加作用,则由于非平衡载流子将要逐渐复合,相应的这两条准Fermi能级即逐渐靠拢;当非平衡载流子完全消失以后,则这两条准Fermi能级即合二为一,即回复到平衡状态时的一条Fermi能级。
例如pn结,在热平衡时,虽然其中存在电荷(空间电荷)和电场(内建电场),但是两边的半导体具有相同的一条Fermi能级;而在外加有电压时,pn结即处于非平衡状态,这时两边的半导体中出现了非平衡少数载流子(注入或者抽出),因此两边的Fermi能级就分开了——一边是电子的准Fermi能级,另一边是空穴的准Fermi能级,两边准Fermi能级分开的大小即与外加电压的高低有关。
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