mof怎么测迁移率

通过高频太赫兹测量和霍尔效应测量。

利用THT水溶液和醋酸亚铁的 *** 溶液之间形成的油/水界面，在NH4OH辅助下形成厚度可控的2DMOF膜材料的方法，最终制备得到了π-d共轭结构的多孔Fe3（THT）2（NH4）3（THT，六巯基三亚苯）2DMOF。

通过高频太赫兹测量和霍尔效应测量，证实了在该半导体材料中存在Drude型带状电荷传输机制，且具有高达~220cm2V-1s-1的室温迁移率，并进一步分析了影响MOF材料中电荷迁移过程的相关因素。

系统利用飞行时间法(time-of-flight，TOF)测量半导体材料的迁移率以及相关的光电特性， 广泛适用于各类半导体材料， 如有机半导体、金属- 有机框架（metal-organic framework, MOF）、共价有机框架（covalent organic framework,COF）、钙钛矿材料等。FlyTOF系统是一款高度集成化的光电测试系统，配备便捷的上位机控制和数据测量软件，可助力客户进行快速、准确的测量。

特点：

专业的信号调教，电磁兼容噪声小；

软件自动控制，测试快速便捷；

快速换样装置，惰性气体氛围测试；

可实现宽温度范围的变温测试（选配）；

可灵活耦合各种类型的激发光源。

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