对于半导体检测,虽然需要用于大规模生产、实验室、晶片等环节,但相关环节也比较复杂,但电气性能测试是基本环节,半导体器件或模块在研究开发、设计和生产过程中是必不可少的环节。
在电气性能测试环节中,电流测试方案是源测量单元(SMU)。SMU是一种具有电压输出和测量以及电流输出和测量功能的精密电源仪表。这种电压和电流的控制给你提供了通过欧姆定律计算电阻和功率的灵活性,它可以同时控制和测量电压和电流,主要为消费类电子产品、IC设计和验证以及其他实验室提供电气性能测试。
目前市场上有许多(SMU)厂家可以提供源测量单元,相关产品很多,但测试仪器越贵,测试精度越高,从某种意义上说,要掌握源测量单元(SMU),就必须了解产生误差的原因和减小误差的方法。
尽管激光市场受到、贸易战等外部因素的影响,但整体产业仍保持欣欣向荣的气象。多家企业仍在建制新厂、扩建或改建、优化工艺线等,这也对激光测试及老化设备提出了更高的要求。目前,国内外大功率半导体激光器泵浦源制作商为了提高输出功率需要使用偏振合束的技术方案,对半导体激光芯片的偏振度测试提出了强烈的需求,目前市面上激光器研制单位针对半导体激光芯片的偏振测试基本依靠简单搭建的独立仪器组合来完成,功能单一,使用 *** 作复杂,测试准确度和重复度差,测试效率低下,以致对偏振度测试成为了众多半导体激光器芯片和模组生产企业的产能瓶颈。为了解决行业测试痛点问题,日前深圳瑞波光电子有限公司的专业测试设备团队,在RB-CT1003X COS综合性能测试机的基础上,开发了带自动偏振测试功能的RB-CT1004X激光器测试设备系列,该型设备集成了LIV、光谱、远程发散角、偏振度自动测试功能,是目前市面上功能最全的半导体激光器测试设备,可广泛应用于激光器芯片、泵源研究院所、大学和生产制造企业,目前该RB-CT1004X系列设备刚一上市就已经获得国内多家半导体激光器制造商的订单,显示出业界对新型测试设备的强力认可和迫切需求。深圳瑞波光电子有限公司一直致力于为半导体激光器制作行业提供全面的、性价比高的测试解决方案,针对半导体激光器制作过程的关键环节,瑞波光电开发了成系列、自动化程度高的性能测试、老化设备。多年来基于用户角度深耕于半导体激光器测试、老化技术,瑞波光电的性能测试、老化设备广泛应用于海内外的光电企业,目前累计对外销售120台。其中RB-CT1003X系列的COS综合性能测试机,集成了LIV、光谱、远程发散角测试,因其功能齐全, *** 作简单广发应用于半导体激光器器件研制单位和生产企业,该系列设备装机量超过50台。1、新款RB-CT1004X系列设备主要功能和特点- 对贴片好的COS、C-mount、TO等封装器件做全面表征测试- 在特殊设计的脉冲电流或者CW模式下测试LIV特性、光谱特性、远场特性、偏振态特性- 可测试器件的COD特性- 电流范围宽:标准电流范围0-25A(可配置到0-0.5A,0-5A,0-40A)- 电流波形选择宽:50微秒脉冲宽度到连续电流ROHS是检测项目里的一种,检测的结果就叫ROHS检测报告,CNAS授权的第三方机构都可以出具。SGS是一家机构,出具的报告叫SGS报告,SGS也可以出具ROHS报告
明白了吗?
提供专业的产品测试,出口产品认证解决方案。
(REACH,CCC,CE,FCC,UL,ROHS,EN71...)
更多咨询,请加用户Q
欢迎分享,转载请注明来源:内存溢出
评论列表(0条)