半导体材料性质表征主要手段有哪些，请写出四种以上，并分别简述其表征材料的何种性质？

四探针技术——测量电阻率ρ=1/σ和载流子浓度。

三探针技术——测量击穿电压，并得到电阻率。

Hall效应技术——测量Hall系数R，并得到迁移率（μ=Rσ）。

MOS电容-电压技术——测量MOS中的界面态和电荷等。

光电导衰退技术——测量少数载流子寿命。

半导体高频测试针俗称“双头d弓针”，简称“高频针”常用探针头型有：B、J、J1、U、U1、T等，其体积细小、测试精度要求较高。主要用于半导体测试及通讯设备频率测试领域。如：手机、对讲机、电脑、广播等通讯频率测试。更多关于探针知识百度搜索——东莞——《景诚实业》希望能够帮助到你。

---