芯片寿命实验估计时间

芯片寿命实验估计时间是10万小时，电子芯片在规定的工作及环境条件下，进行的工作试验称为寿命试验，又称耐久性试验，随着LED生产技术水平的提高，产品的寿命和可靠性大为改观。

晶片/芯片（chip）在电子学中是一种将电路（主要包括半导体设备，也包括被动组件等）小型化的方式，并时常制造在半导体晶圆表面上。

在不过流，不过压，冷热端(特别是热端)散热良好，不违规 *** 作(重压，摔打，工作过程中突然转换制冷制热模式等)的情况下，使用5万个小时是很容易达成。

半导体指常温下导电性能介于导体(conductor)与绝缘体(insulator)之间的材料。半导体在收音机、电视机以及测温上有着广泛的应用。