半导体Wat是指晶圆生产出来后,在出晶圆厂之前,要经过一道电性测试,称为晶圆可接受度测试(WAT)。
晶圆生产出来后,在出晶圆厂之前,要经过一道电性测试,称为晶圆可接受度测试(WAT)。这个测试是测试在切割道(Scribe Line)上的测试键(TestKey)的电性能。测试键通常设计有各种原件,例如不同尺寸的NMOS、PMOS、电阻、电容以及其他工艺相关的特性。
这一道可以当做是初选。那些有严重生产问题从而使得测试键的电性能超出规格之外的晶圆会在这一道被筛选出来,报废掉。这一道报废掉的晶圆,因为还没有出货到客户手里,所以是不收取客户钱的,由晶圆厂自己吸收。
未来两年全球晶圆厂设备开支持续增长。疫情对全球半导体行业带来深远影响。需求 端,居家及远程办公带来笔电等消费电子需求激增,此外全球正步入第四轮硅含量提升 周期,服务器、汽车、工业、物联网等需求大规模提升。
它主要是根据利用半导体元件与温度的关系通过热敏电阻的电路连接显示示数的。
原理就是半导体与温度线性关系
1、玻璃液体温度计:液体的热胀冷缩原理
2、热电偶温度计:将两种不同材料的导线或半导体A和B焊接起来,构成一个闭合回路,当导线A和B两个接点1和2之间存在温差时,两者之间便产生电动势。
3、热电阻温度计:根据金属丝的电阻随温度变化的原理工作的
4、双金属温度计:由两片膨胀系数不同的金属牢固地粘合在一起,其一端固定,另一端通过传动机构和指针相连。
当温度变化时,由于膨胀系数不同,双金属片产生位移,带动指针指示相应的温度。这便是双金属温度计的工作原理 。
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