我想问,那种能制冷制热,水壶是怎样做到得 ??

我想问,那种能制冷制热,水壶是怎样做到得 ??,第1张

半导体制冷 加热壶制热 半导体制冷器件不需要压缩机,不需要常规的制冷剂,不会污染环境,它只一种特殊结构的半导体,通上电就可以打破热平衡。著名的 理论:N.P型半导体通过金属导流片连接,当电流由N通过P时,电场将使N中的电子向P中的空穴反向流动,它们产生的能量来自晶格的热能,于是在导流片上吸热,而在另一端放热,从而产生温差。 假如你在热的一面加散热片和风扇使它的温度降到环境温度左右,则冷的一面的温度则会低于环境温度,甚至达到零度以下。 目前市场上大约有40种不同尺寸规格的半导体制冷器大量现货供应,适用于CPU、3D显示卡、高速硬盘、芯片等,轻松地把温度降到零度。 半导体制冷器的用途很多 ,可用于制作便携冷藏/保温箱、冷热饮水机等。也用于电子器件的散热。目前制冷器所采用的半导体材料最主要为碲化铋,加入不纯物经过特殊处理而成 N 型或 P 型半导体温差元件。以市面常见的TEC1-12605为例,其 额定电压为:12v, 额定电流为5A,最大温差可达60摄氏度,外型尺寸为4 X 4 X 0.4Cm,重约25克。它的工作特点是一面制冷而一面发热。 半导体制冷的热面温度不应超过60℃,否则就有损坏的可能。若在额定的工作电压(12V)下,一般的散热风扇根本无法为制冷片提供足够的散热能力,容易造成制冷片过热损坏。同时千万不要在无散热器的情况下为致冷器长时间通电,否则会造成致冷器内部过热而烧毁。 当半导体制冷片陶瓷表面的温度降至一定程度时,就很可能会产生结露现象,是否会“结露”与温度和湿度有关(即气象学中所谓“露点”的概念)。

半导体激光器是用半导体材料作为工作物质的激光器,由于物质结构上的差异,不同种类产生激光的具体过程比较特殊。常用工作物质有砷化镓(GaAs)、硫化镉(CdS)、磷化铟(InP)、硫化锌(ZnS)等。激励方式有电注入、电子束激励和光泵浦三种形式。 半导体激光器件,可分为同质结、单异质结、双异质结等几种。同质结激光器和单异质结激光器在室温时多为脉冲器件,而双异质结激光器室温时可实现连续工作。

半导体激光器是以一定的半导体材料做工作物质而产生激光的器件。.其工作原理是通过一定的激励方式,在半导体物质的能带(导带与价带)之间,或者半导体物质的能带与杂质(受主或施主)能级之间,实现非平衡载流子的粒子数反转,当处于粒子数反转状态的大量电子与空穴复合时,便产生受激发射作用。半导体激光器的激励方式主要有三种,即电注入式,光泵式和高能电子束激励式。电注入式半导体激光器,一般是由砷化镓(GaAs)、硫化镉(CdS)、磷化铟(InP)、硫化锌(ZnS)等材料制成的半导体面结型二极管,沿正向偏压注入电流进行激励,在结平面区域产生受激发射。光泵式半导体激光器,一般用N型或P型半导体单晶(如GaAS,InAs,InSb等)做工作物质,以其他激光器发出的激光作光泵激励.高能电子束激励式半导体激光器,一般也是用N型或者P型半导体单晶(如PbS,CdS,ZhO等)做工作物质,通过由外部注入高能电子束进行激励。在半导体激光器件中,性能较好,应用较广的是具有双异质结构的电注入式GaAs二极管激光器。

半导体激光器的核心发光部分为激光二极管,是由p型和n型半导体构成的pn结管芯,当注入pn结的少数载流子与多数载流子复合时,就会发出可见光,紫外光或近红外光。但pn结区发出的光子是非定向的,即向各个方向发射有相同的几率,因此,并不是管芯产生的所有光都可以释放出来,这主要取决于半导体材料质量、管芯结构及几何形状、封装内部结构与包封材料,应用要求提高半导体激光器的内、外部量子效率。常规Φ5mm型半导体激光器封装是将边长0.25mm的正方形管芯粘结或烧结在引线架上,管芯的正极通过球形接触点与金丝,键合为内引线与一条管脚相连,负极通过反射杯和引线架的另一管脚相连,然后其顶部用环氧树脂包封。反射杯的作用是收集管芯侧面、界面发出的光,向期望的方向角内发射。顶部包封的环氧树脂做成一定形状,有这样几种作用:保护管芯等不受外界侵蚀;采用不同的形状和材料性质(掺或不掺散色剂),起透镜或漫射透镜功能,控制光的发散角;管芯折射率与空气折射率相关太大,致使管芯内部的全反射临界角很小,其有源层产生的光只有小部分被取出,大部分易在管芯内部经多次反射而被吸收,易发生全反射导致过多光损失,选用相应折射率的环氧树脂作过渡,提高管芯的光出射效率。用作构成管壳的环氧树脂须具有耐湿性,绝缘性,机械强度,对管芯发出光的折射率和透射率高。选择不同折射率的封装材料,封装几何形状对光子逸出效率的影响是不同的,发光强度的角分布也与管芯结构、光输出方式、封装透镜所用材质和形状有关。若采用尖形树脂透镜,可使光集中到半导体激光器的轴线方向,相应的视角较小;如果顶部的树脂透镜为圆形或平面型,其相应视角将增大。

核心零件激光二极管:

而普通的激光笔,一般也就相当于是一种简易的半导体激光器而已:

参考结构:

半导体激光器最基本的结构就是:准直透镜组、激光二极管、散热外壳(激光二极管是半导体激光里发热最厉害的部分,而且对温度敏感,娇气,所以散热很重要)、恒流驱动电路、电源(包括电池、开关电源);而工业上用的,为了能长时间工作,通常都有温控和散热冷却(风冷、水冷、TEC半导体制冷)。

工业上的一般是这种:

离子注入是离子参杂的一种。随着VLSI器件的发展,到了70年代,器件尺寸不断减小,结深降到1um以下,扩散技术有些力不从心。在这种情况下,离子注入技术比较好的发挥其优势。目前,结深小于1um的平面工艺,基本都采用离子注入技术完成掺杂。离子注入技术已经成为VLSI生产中不可缺少的掺杂工艺。………离子注入具有如下的特点①可以在较低温度下(400℃)进行,避免高温处理。②通过控制注入时的电学条件(电流、电压)可以精确控制浓度和结深,更好的实现对杂质分布形状的控制。而且杂质浓度不受材料固溶度的限制。③可选出一种元素进行注入,避免混入其他杂质。④可以在较大面积上形成薄而均匀的掺杂层。同一晶片上杂质不均匀性优于1%,且横向掺杂比扩散小的多。⑤控制离子束的扫描区域,可实现选择注入并进而发展为一种无掩模掺杂技术。…………离子注入技术应用领域2.1 离子注入应用于金属材料改性离子注入应用于金属材料改性,是在经过热处理或表面镀膜工艺的金属材料上,注入一定剂量和能量的离子到金属材料表面,改变材料表层的化学成份、物理结构和相态,从而改变材料的力学性能、化学性能和物理性能。具体地说,离子注入能改变材料的声学、光学和超导性能,提高材料的工作硬度、耐磨损性、抗腐蚀性和抗氧化性,最终延长材料工作寿命。离子注入提高工模具的耐磨性能、金属样品的抗疲劳性以及金属表面耐腐蚀性2 离子注入机应用于掺杂工艺在半导体工艺技术中,离子注入具有高精度的剂量均匀性和重复性,可以获得理想的掺杂浓度和集成度,使电路的集成、速度、成品率和寿命大为提高,成本及功耗降低。这一点不同于化学气相淀积,化学气相淀积要想获得理想的参数,如膜厚和密度,需要调整设备设定参数,如温度和气流速率,是一个复杂过程。上个世纪70年代要处理简单一个的n型金属氧化物半导体可能只需6~8次注入,而现代嵌入记忆功能的CMOS集成电路可能需要注入达35次。技术应用需要剂量和能量跨越几个等级,多数注入情况为:每个盒子的边界接近,个别工艺因设计差异有所变化。随着能量降低,离子剂量通常也会下降。具备经济产出的最高离子注入剂量是1016/cm2,相当于20个原子层。3 在SOI技术中的应用由于SOI技术(Silicon-on-Insulation)在亚微米ULSI低压低功耗电路和抗辐照电路等方面日益成熟的应用,人们对SOI制备技术进行了广泛探索。1966年Watanabe和Tooi首先报道通过O+注入形成SILF表面的Si氧化物来进行器件间的绝缘隔离的可能性。1978年,NTT报道用这项技术研制出高速、低功耗的CMOS链振荡电路后,这种注O+技术成为众人注目的新技术。从而注氧隔离技术即SIMOX就成了众多SOI制备技术中最有前途的大规模集成电路生产技术。1983年NTT成功运用了SIMOX技术大批生产了COMSBSH集成电路;1986年NTT还研制了抗辐射器件。这一切,使得NTT联合EATON公司共同开发了强流氧离子注入机(束流达100mA),之后EATON公司生产了一系列NV-200超强流氧离子注入机,后来Ibis公司也研制了Ibis-1000超强流氧离子注入。从此SIMOX技术进入了大规模生产年代。到了上世纪90年代后期,人们在对SIMOX材料的广泛应用进行研究的同时,也发现了注氧形成的SOI材料存在一些难以克服的缺点,如硅岛、缺陷,顶部硅层和氧化层的厚度不均匀等,从而导致了人们开始着眼于注氢和硅片键合技术相结合的智能剥离技术即SMART CUT技术的研制,上世纪90年代末期,H+离子注入成了新的热门话题。目前虽无专门的H+离子注入机,但随着SMART CUT工艺日趋成熟,不久将会出现专门的H+离子注入机。除了半导体生产行业外,离子注入技术也广泛应用于金属、陶瓷、玻璃、复合物、聚合物、矿物以及植物种子改良上。


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