紫外-可见光光谱(Ultraviolet–visible spectroscopy,UV-Vis),又称紫外-可见分子吸收光谱法。
紫外-可见分光光度法是在190~800nm波长范围内测定物质的吸光度,用于鉴别、杂质检查和定量测定的方法。当光穿过被测物质溶液时,物质对光的吸收程度随光的波长不同而变化。因此,通过测定物质在不同波长处的吸光度,并绘制其吸光度与波长的关系图即得被测物质的吸收光谱。
从吸收光谱中,可以确定最大吸收波长λmax和最小吸收波长λmin。物质的吸收光谱具有与其结构相关的特征性。因此,可以通过特定波长范围内样品的光谱与对照光谱或对照品光谱的比较,或通过确定最大吸收波长,或通过测量两个特定波长处的吸收比值而鉴别物质。
用于定量时,在最大吸收波长处测量一定浓度样品溶液的吸光度,并与一定浓度的对照溶液的吸光度进行比较或采用吸收系数法求算出样品溶液的浓度。
显微分光光度法
显微镜样品的紫外可见光谱是通过将光学显微镜与紫外可见光学器件,白光源,单色仪和灵敏的检测器(如电荷耦合器件(CCD)或光电倍增管(PMT))集成在一起完成的。由于只有一条光路可用,因此它们是单光束仪器。现代仪器能够测量微米级采样区域的反射率和透射率中的紫外线可见光谱。
使用此类仪器的优势在于,它们能够测量微观样品,但也能够以高空间分辨率测量较大样品的光谱。因此,它们在法证实验室中用于分析单个纺织纤维中的染料和色素,微观油漆碎片和玻璃碎片的颜色。它们还用于材料科学和生物学研究,以及通过测量镜质体反射率来确定煤和石油烃源岩的能量含量。
显微分光光度计用于半导体和微光学行业,用于在沉积薄膜后监控薄膜的厚度。在半导体行业中,使用它们是因为电路的关键尺寸是微观的。半导体晶片的典型测试将需要从已图案化或未图案化的晶片上的许多点获取光谱。
沉积膜的厚度可以从干涉图案计算出光谱 此外,紫外可见分光光度法可用于确定厚度以及薄膜的折射率和消光系数,如薄膜材料的折射率和消光系数所述。然后可以生成整个晶片上的膜厚图,并将其用于质量控制目的。
以上内容参考 百度百科-紫外-可见分光光度法
DCT2000半导体功率器件静态参数测试仪系统能测试很多电子元器件的静态直流参数(如击穿电压V(BR)CES/V(BR)DSs、漏电流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、阈值电压/VGE(th)、开启电压/VCE(on)、跨导/Gfe/Gfs、压降/Vf、导通内阻Rds(on))。
测试种类覆盖7 大类别26分类,包括“二极管类”“三极管类(如BJT、MOSFET、IGBT)”“保护类器件”“稳压集成类”“继电器类”“光耦类”“传感监测类”等品类的繁多的电子元器件。
高压源标配1400V(选配2KV),高流源标配100A(选配40A,200A,500A)
控制极/栅极电压40V,栅极电流10mA
分辨率最高至1mV / 1nA,精度最高可至0.5%
DCT2000半导体功率器件静态参数测试仪系统适用于功率器件测试还可测试“结电容”,支持“脉冲式一键加热”和“分选机连接”
第一部分:规格&环境
1.1、 产品信息
产品型号:DCT2000
产品名称:半导体功率器件静态参数测试仪系统
1.2、 物理规格
主机尺寸:深660*宽430*高210(mm)
主机重量:<35kg
1.3、 电气环境
主机功耗:<300W
海拔高度:海拔不超过4000m;
环境要求:-20℃~60℃(储存)、5℃~50℃(工作);
相对湿度:20%RH~75%RH (无凝露,湿球温度计温度 45℃以下);
大气压力:86Kpa~106Kpa;
防护条件:无较大灰尘,腐蚀或爆炸性气体,导电粉尘等;
电网要求:AC220V、±10%、50Hz±1Hz;
工作时间:连续;
第二部分:应用场景和产品特点
一、应用场景
1、 测试分析 (功率器件研发设计阶段的初始测试,主要功能为曲线追踪仪)
2、 失效分析 (对失效器件进行测试分析,查找失效机理。以便于对电子整机的整体设计和使用过程提出改善方案)
3、 选型配对 (在器件焊接至电路板之前进行全部测试,将测试数据比较一致的器件进行分类配对)
4、 来料检验 (研究所及电子厂的质量部(IQC)对入厂器件进行抽检/全检,把控器件的良品率)
5、 量产测试 (可连接机械手、扫码q、分选机等各类辅助机械设备,实现规模化、自动化测试)
6、 替代进口 (DCT2000半导体功率器件静态参数测试仪系统可替代同级别进口产品)
二、产品特点
1、程控高压源10~1400V,提供2000V选配;
2、程控高流源1uA~100A,提供40A,200A,500A选配;
3、驱动电压10mV~40V
4、控制极电流10uA~10mA;
5、16位ADC,100K/S采样速率;
6、自动识别器件极性NPN/PNP
7、曲线追踪仪,四线开尔文连接保证加载测量的准确
8、通过RS232 接口连接校准数字表,对系统进行校验
9、不同的封装形式提供对应的夹具和适配器(如TO220、SOP-8、DIP、SOT-23等等)
10、半导体功率器件静态参数测试仪系统能测很多电子元器件(如二极管、三极管、MOSFET、IGBT、可控硅、光耦、继电器等等);
11、半导体功率器件静态参数测试仪系统能实现曲线追踪仪(如击穿电压V(BR)CES/V(BR)DSs、漏电流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、阈值电压/VGE(th)、开启电压/VCE(on)、跨导/Gfe/Gfs、压降/Vf、导通内阻Rds(on) )
12、结电容参数也可以测试,诸如Cka,Ciss,Crss,Coss;
13、脉冲电流自动加热功能,方便高温测试,无需外挂升温装置;
14、Prober 接口、Handler 接口可选(16Bin),连接分选机最高效率1h/9000个;
15、半导体功率器件静态参数测试仪系统在各大电子厂的IQC、实验室有着广泛的应用;
第三部分:产品介绍
3.1、产品介绍
DCT2000半导体功率器件静态参数测试仪系统是由我公司技术团队结合半导体功率器件静态参数测试仪系统的多年经验,以及众多国内外测试系统产品的熟悉了解后,完全自主开发设计的全新一代“半导体功率器件静态参数测试仪系统”。软件及硬件均由团队自主完成。这就决定了这款产品的功能性和可靠性能够得到持续完善和不断的提升。
半导体功率器件静态参数测试仪系统脉冲信号源输出方面,高压源标配1400V(选配2KV),高流源标配100A(选配40A,200A,500A)栅极电压40V,栅极电流10mA,分辨率最高至1mV / 30pA,精度最高可至0.5%。程控软件基于Lab VIEW平台编写,填充式菜单界面。采用带有开尔文感应结构的测试插座,自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降,保证测试结果准确可靠。产品可测试 Si, SiC, GaN 材料的 IGBTs, DIODEs, MOSFETs, BJTs, SCRs 等7大类26分类的电子元器件。涵盖电子产品中几乎所有的常见器件。无论电压电流源还是功能配置都有着极强的扩展性。
产品为桌面放置的台式机结构,由测试主机和程控电脑两大部分组成。外挂各类夹具和适配器,还能够通过Prober 接口、Handler 接口可选(16Bin)连接分选机和机械手建立工作站,实现快速批量化测试。通过软件设置可依照被测器件的参数等级进行自动分类存放。能够极好的应对“来料检验”“失效分析”“选型配对”“量产测试”等不同场景。
半导体功率器件静态参数测试仪系统产品的可靠性和测试数据的重复性以及测试效率都有着非常优秀的表现。创新的“点控式夹具”让 *** 作人员在夹具上实现一点即测。 *** 作更简单效率更高。测试数据可保存为EXCEL文本,方便快捷的完成曲线追踪仪。
3.2、人机界面(DCT2000半导体功率器件静态参数测试仪系统)
第四部分:功能配置
4.1、 配置选项
DCT2000半导体功率器件静态参数测试仪系统的功能配置如下
4.2、 适配器选型
DCT2000半导体功率器件静态参数测试仪系统的适配器有如下
4.3、 测试种类及参数
DCT2000半导体功率器件静态参数测试仪系统的测试种类和参数如下
(1)二极管类:二极管 Diode
Kelvin,Vrrm,Irrm,Vf,△Vf,△Vrrm,Cka,Tr(选配);
(2)二极管类:稳压二极管 ZD(Zener Diode)
Kelvin,Vz,lr,Vf,△Vf,△Vz,Roz,lzm,Cka;
(3)二极管类:稳压二极管 ZD(Zener Diode)
Kelvin、Vz、lr、Vf、△Vf、△Vz、Roz、lzm、Cka;
(4)二极管类:三端肖特基二极管SBD(SchottkyBarrierDiode)
Kelvin 、Type_ident 、Pin_test 、Vrrm、Irrm、Vf、△Vf、V_Vrrm、I_Irrm、△Vrrm、Cka、Tr(选配);
(5)二极管类:瞬态二极管 TVS
Kelvin 、Vrrm 、Irrm、Vf、△Vf、△Vrrm 、Cka ;
(6)二极管类:整流桥堆
Kelvin 、Vrrm、Irrm、Ir_ac、Vf、△Vf、△Vrrm 、Cka;
(7)二极管类:三相整流桥堆
Kelvin 、Vrrm 、Irrm、Ir_ac、Vf、△Vf、△Vrrm、Cka;
(8)三极管类:三极管
Kelvin 、Type_ident、Pin_chk 、V(br)cbo 、V(br)ceo 、V(br)ebo 、Icbo、lceo、Iebo、Hfe、Vce(sat)、Vbe(sat)、△Vsat、△Bvceo 、△Bvcbo 、Vbe、lcm、Vsd 、Ccbo 、Cces、Heater、Tr (选配)、Ts(选配)、Value_process;
(9) 三极管类:双向可控硅
Kelvin、Type_ident、Qs_chk、Pin_test、Igt、Vgt、Vtm、Vdrm、Vrrm、Vdrm rrm、Irrm、 Idrm、Irrm_drm、Ih、IL、C_vtm、△Vdrm、△Vrrm、△Vtm;
(10)三极管类:单向可控硅
Kelvin、 Type_ident、 Qs_chk、 Pin test、 lgt、 Vgt、 Vtm、 Vdrm Vrrm、 IH、IL、△Vdrm△Vrrm、Vtm;
(11)三极管类:MOSFET
Kelvin 、Type_ident、Pin_test、VGS(th) 、V(BR)Dss 、Rds(on) 、Bvds_rz、△Bvds、Gfs、Igss、ldss 、Idss zero 、Vds(on)、 Vsd、Ciss、Coss、Crss、Bvgs 、ld_lim 、Heater、Value_proces、△Rds(on) ;
(12)三极管类:双MOSFET
Kelvin、 Pin_chk、Ic_fx_chk、 Type_ident、 Vgs1(th)、 VGs2(th)、 VBR)Dss1、 VBR)Dss2、 Rds1(on)、 Rds2(on)、 Bvds1 rz、 Bvds2_rz、 Gfs1、Gfs2、lgss1、lgss2、Idss1、Idss2、Vsd1、Vsd2、Ciss、Coss、Crss;
(13)三极管类:JFET
Kelvin、VGS(off )、V(BR)Dss、Rds(on)、Bvds_rz、Gfs、lgss、 Idss(off)、 Idss(on)、 vds(on)、 Vsd、Ciss、Crss、Coss;
(14)三极管类:IGBT
Kelvin、VGE(th)、V(BR)CES、Vce(on)、Gfe、lges、 lces、Vf、Ciss、Coss、Crss;
(15)三极管类:三端开关功率驱动器
Kelvin、Vbb(AZ)、 Von(CL)、 Rson、Ibb(off)、Il(lim)、Coss、Fun_pin_volt;
(16)三极管类:七端半桥驱动器
Kelvin、lvs(off)、lvs(on)、Rson_h、Rson_l、lin、Iinh、ls_Volt、Sr_volt;
(17)三极管类:高边功率开关
Kelvin、Vbb(AZ)、Von(CL)、Rson、Ibb(off)、ll(Iim)、Coss、Fun_pin_volt;
(18)保护类:压敏电阻
Kelvin、Vrrm、 Vdrm、Irrm、Idrm、Cka、 △Vr
(19)保护类:单组电压保护器
Kelvin 、Vrrm、Vdrm、Irrm、Idrm、Cka、△Vr;
(20)保护类:双组电压保护器
Kelvin、Vrrm、Vdrm、Irrm、Idrm、Cka、△Vr;
(21)稳压集成类:三端稳压器
Kelvin 、Type_ident 、Treg_ix_chk 、Vout 、Reg_Line、Reg_Load、IB、IB_I、Roz、△IB、VD、ISC、Max_lo、Ro、Ext _Sw、Ic_fx_chk;
(22)稳压集成类:基准IC(TL431)
Kelvin、Vref、△Vref、lref、Imin、loff、Zka、Vka;
(23)稳压集成类:四端稳压
Kelvin、Type_ident、Treg_ix_chk、Vout、Reg_Line、Reg_Load、IB、IB_I、Roz、△lB、VD、Isc、Max_lo、Ro、Ext_Sw、Ic_fx_chk;
(24)稳压集成类:开关稳压集成器
选配;
(25)继电器类:4脚单刀单组、5脚单刀双组、8脚双组双刀、8脚双组四刀、固态继电器
Kelvin、Pin_chk、Dip6_type_ident、Vf、Ir、Vl、Il、Ift、Ron、Ton(选配)、Toff(选配);
(26)光耦类:4脚光耦、6脚光耦、8脚光耦、16脚光耦
Kelvin、Pin_chk、Vf、Ir、Bvceo、Bveco、Iceo、Ctr、Vce(sat)、Tr、Tf;
(27)传感监测类:
电流传感器(ACS712XX系列、CSNR_15XX系列)(选配);
霍尔器件(MT44XX系列、A12XX系列)(选配);
电压监控器(选配);
电压复位IC(选配);
曲线追踪仪
第五部分:性能指标
DCT2000半导体功率器件静态参数测试仪系统的性能指标如下
5. 1 、 电流/电压源 ( VIS ) 自带VI测量单元
(1)加压(FV)
量程±40V分辨率19.5mV精度±1% 设定值±10mV
量程±20V分辨率10mV精度±1% 设定值±5mV
量程±10V分辨率5mV精度±1% 设定值±3mV
量程±5V分辨率2mV精度±1% 设定值±2mV
量程±2V分辨率1mV精度±1% 设定值±2mV
(2)加流(FI)
量程±40A 分辨率19.5mA精度±2% 设定值±20mA
量程±4A 分辨率1.95mA精度±1% 设定值±2mA
量程±400mA分辨率1195uA精度±1% 设定值±200uA
量程±40mA分辨率119.5uA精度±1% 设定值±20uA
量程±4mA分辨率195nA精度±1% 设定值±200nA
量程±400uA分辨率19.5nA精度±1% 设定值±20nA
量程±40uA分辨率1.95nA精度±1% 设定值±2nA
说明:电流大于1.5A自动转为脉冲方式输出,脉宽范围:300us-1000us可调
(3)电流测量(MI)
量程±40A分辨率1.22mA精度±1% 读数值±20mA
量程±4A分辨率122uA精度±0.5% 读数值±2mA
量程±400mA分辨率12.2uA精度±0.5% 读数值±200uA
量程±40mA分辨率1.22uA精度±0.5% 读数值±20uA
量程±4mA分辨率122nA精度±0.5% 读数值±2uA
量程±400uA分辨率12.2nA精度±0.5% 读数值±200nA
量程±40uA分辨率1.22nA精度±1% 读数值±20nA
(4)电压测量(MV)
量程±40V分辨率1.22mV精度±1% 读数值±20mV
量程±20V分辨率122uV 精度±0.5% 读数值±2mV
量程±10V分辨率12.2uV 精度±0.5% 读数值±200uV
量程±5V分辨率1.22uV 精度±0.5% 读数值±20uV
5. 2 、 数据采集部分 ( VM )
16位ADC,100K/S采样速率
(1)电压测量(MV)
量程±2000V分辨率30.5mV精度±0.5%读数值±200mV
量程±1000V分辨率15.3mV精度±0.2%读数值±20mV
量程±100V分辨率1.53mV精度±0.1%读数值±10mV
量程±10V分辨率153uV精度±0.1%读数值±5mV
量程±1V分辨率15.3uV精度±0.1%读数值±2mV
量程±0.1V分辨率1.53uV精度±0.2%读数值±2mV
(2)漏电流测量(MI)
量程±100mA分辨率30uA精度±0.2%读数值±100uA
量程±10mA分辨率3uA精度±0.1%读数值±3uA
量程±1mA分辨率300nA精度±0.1%读数值±300nA
量程±100uA分辨率30nA精度±0.1%读数值±100nA
量程±10uA分辨率3nA精度±0.1%读数值±20nA
量程±1uA 分辨率300pA精度±0.5%读数值±5nA
量程±100nA分辨率30pA精度±0.5%读数值±0.5nA
(3)电容容量测量(MC)
量程6nF分辨率10PF精度±5%读数值±50PF
量程60nF分辨率100PF精度±5%读数值±100PF
5. 3 、 高压源 ( HVS ) (基本)12位DAC
(1)加压(FV)
量程2000V/10mA分辨率30.5mV精度±0.5%设定值±500mV
量程200V/10mA分辨率30.5mV精度±0.2%设定值±50mV
量程40V/50mA分辨率30.5mV精度±0.1%设定值±5mV
(2)加流(FI):
量程10mA分辨率3.81uA 精度±0.5%设定值±10uA
量程2mA分辨率381nA精度±0.5%设定值±2uA
量程200uA分辨率38.1nA精度±0.5%设定值±200nA
量程20uA分辨率3.81nA精度±0.5%设定值±20nA
量程2uA分辨率381pA精度±0.5%设定值±20nA
DCT2000 半导体功率器件静态参数测试仪系统 能测很多电子元器件 ( 如二极管、三极管、MOSFET、IGBT、可控硅、光耦、继电器等等 ) 产品广泛的应用在院所高校、封测厂、电子厂.....
NO 1. 上海精科上海精密科学仪器-仪器的前身是上海天平仪器厂和上海第二天平仪器厂,目前是国内历史最悠久、且最具实力的专业生产天平仪器及实验室仪器的高新技术企业。
NO 2. 上海美谱达
上海美谱达仪器有限公司坐落于上海市西部的飞霞工业区,是集实验室设备研发、制造、销售、服务为一体的专业化高新技术企业。美谱达采用当今世界光谱仪器最新的设计理念,为用户提供一流的产品。作为公司现阶段主推产品的 紫外/可见分光光度计是实验室常规分析设备,它利用光谱分析方法对样品进行定性、定量分析,在有机化学、无机化学、生物化学、生命科学、药品分析、食品检验、医药卫生、环保、地质、冶金、石油、机械、商检和农业等各个领域都有广泛的应用。
美谱达在光度计的方法学应用、产品机械结构、光学设计、电气应用和软件开发等方面不断开拓创新,相继推出UV/Vis-1系列紫外/可见分光光度计,UV-3系列扫描型紫外/可见分光光度计,UV-6系列双光束扫描型紫外/可见分光光度计,以满足各类实验室对分光光度计产品的不同需求,受到国内外用户的普遍好评。
NO 3. 上海光谱
上海光谱仪器有限公司(“上海光谱”)成立于1999年初,是当今中国分析仪器行业主要研发与生产制造商之一,同时也是“中国制造”的分析仪器在国际市场的主要供应商。
“上海光谱”还与国内多家著名重点大学、中科院所、国家重点实验室以及多名两院院士、知名教授、分析仪器行业的知名专家建立了良好的合作关系。公司还有一个由院士、博士生导师和有着丰富经验专家组成的顾问组,为公司的发展方向,技术进步和企业管理提供决策咨询。
NO 4. 美国哈希
美国哈希公司成立于1947年,现为美国丹纳赫集团一级子公司,总部设在美国科罗拉多州的拉夫兰市,是设计和制造水质、水文监测仪器的专业厂家。工厂分别分布于美国、瑞士、德国、法国和英国。
作为水质、水文监测仪器的世界领导者,哈希公司产品被全球用户广泛应用于饮用水、地下水、地表水、市政污水、工业污水、半导体超纯水、制药/电力及其他工业净水、等领域,其全线产品系列涵盖实验室定性/定量分析、现场分析、流动分析测试、在线分析测试。产品具有测量精确、运行可靠、 *** 作简单、低维护量,结构紧凑等特点。
NO 5. 上海恒平
上海恒平科学仪器有限公司,是上海市高新技术企业,教育部创新科学仪器工程研究中心产业化基地,专业致力于各类科学仪器的研发、制造和销售。
NO 6. 尤尼柯
外商独资尤尼柯(上海)仪器有限公司,专业生产紫外、可见分光光度计和实验室仪器,是集科研、开发、销售、技术咨询服务于一体的外向型企业。
NO 7. 天津港东
天津港东科技发展股份有限公司于1999年注册成立,坐落于天津市华苑产业园区鑫茂科技园内,是一家专业从事物理实验仪器和现代分析仪器研发、生产和销售的高新技术企业,自成立以来,秉承“以品质为保证,以自主创新为先导,为客户创造价值”的核心理念,稳健经营,积极进取,逐步迈向业界知名的现代化上市公司行列。
公司拥有完善的科研创新体系和一大批具有专业知识和高水平研发能力的教授、博士、硕士等组成的科研团队,在高等院校物理实验仪器与现代分析仪器领域的科研创新上取得了瞩目成绩,拥有众多知识产权和专利,获得多次多项科技奖以及科技型中小企业技术创新资金专项拨款。多功能光栅光谱仪、光学平台等十四项科技产品在“世行贷款高等教育改革项目”、“师范教育发展项目”中中标。傅里叶变换红外光谱仪、红外分光光度计、紫外可见分光光度计、荧光分光光度计等均获国家计量认证。迈克尔逊和法布里-珀罗两用干涉仪、自动椭圆偏振测厚仪、热膨胀实验装置等获得国家专利。激光拉曼光谱仪、结石红外光谱自动分析系统等产品填补了国内空白。
NO 8. 上海天美
上海天美是由创建于1994年的上海天美科学仪器有限公司和2006年成立的上海天美生化仪器设备工程有限公司组成,它们都是天美(控股)有限公司的独资子公司。天美(控股)有限公司是在新加坡上市的从事分析仪器和生化仪器的研发、生产、销售、服务的专业公司,总部设于香港。
NO 9. 上海棱光
上海棱光技术有限公司是以研发、制造、销售分析仪器、医疗与生命科学仪器及光学仪器并提供咨询和服务的民营公司,科技人员比例达60%,具有上海市质量技术监督局颁发的铸造计量器具许可证和上海市药品监督局颁发的医疗器械生产销售许可证,有近半个世纪生产开发光谱及其它分析仪器的经验,产品有:S20系列可见分光光度计、S50系列紫外可见分光光度计、F90系列荧光分光光度计、S400系列近红外分析仪、W系列物理光学仪器、S61低密度芯片系列、S63 PCR扩增仪等。
NO 10. 上海菁华
上海菁华科技仪器有限公司、上海菁海仪器有限公司是集开发研制、生产制造各类紫外可见分光光度计、各类电子天平、机械天平及水分仪,并经销各类实验室仪器设备的综合性公司。
NO 11. 上海凤凰
上海凤凰光学科仪有限公司是凤凰光学集团有限公司麾下的合资企业,主要从事中高端科学仪器的研发、生产和销售。凤凰光学集团是一个有着43年历史的国家重点高新技术企业,中国光学行业第一家上市公司,也是我国光学行业中最大型的光学仪器生产企业。主要生产光学元件、显微镜、照相机、光学设备、影视机械等系列产品,具有雄厚的光学加工、精密注塑、模具制造、表面装饰等科研和生产加工能力。
NO 12. WTW
WTW是世界上著名的环保仪器制造商。成立于1945年,总部位于德国慕尼黑市郊,具有60多年的制造先进物化分析仪器的成功经验。产品技术处于世界领先水平,广泛应用于科研、质量控制、水质分析、污水治理等行业,是世界上主要的环保分析仪器和在线监测仪器的生产厂商。
NO 13. 上海元析
上海元析仪器有限公司是一家有着多年设计制造经验、专业从事实验室分析类仪器研发、生产、销售和服务为一体的高新技术企业。公司有着团结、奋进的工作队伍和积极进取的工作热情;在先进管理理念的指导下,不断吸收国内外先进技术理念和经验,锐意创新,相继开发出具有自主知识产权的分析类仪器。可见分光光度计、紫外可见分光光度计、生物核酸蛋白分析仪逐渐成为公司的主打产品,广泛应用于生物、化学、环保、食品、 冶金、电力、电子等诸多领域。
NO 14. 北京普析通用
北京普析通用仪器有限责任公司创立于1991年,是从事科学仪器研制、开发、生产的高科技企业。现有职工800多人,其中科技人员占职工总数的三分之一。经过十余年的艰苦奋斗和不断创新,现已成长为同行业的领先企业。产品包括光谱分析仪、色谱分析仪、水质分析仪等几大系列数十种产品,从紫外可见分光光度计、原子吸收分光光度计、血液元素分析仪,在线水质分析仪、快速便携式水质分析仪、砷形态分析仪到X射线衍射仪、X射线荧光分析仪等齐全的产品群,并开发出拥有自主知识产权的系列分析测试软件。2003年普析通用被中国企业评价协会评为“中国500家成长型中小企业”。2004年先后被中国新闻社评价中心评为“中国最具竞争力中小企业500强”;被中国中小企业国际合作协会、国家统计局工业交通统计司评为“中国制造业1000家最具成长性中小企业”;被北京市工商局连续三年评为北京市“守信企业”。
NO 15. 上海长方
上海长方致力于先进的精密光学制造技术和计算机图象处理技术的研发.上海长方从事发展尖端光学、精密机械、计算机相结合的(光、机、电一体化)光学仪器开发和销售。
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