信号识别颗粒
概述
信号识别颗粒signal recognition particle (SRP)在真核生物细胞质中一种小分子RNA(300个核苷酸组成的7s RNA)和六种蛋白的信号识别颗粒复合体,此复合体能识别核糖体上新生肽末端的信号,顺序并与之结合,使肽合成停止,同时它又可和ER膜上的'停泊蛋白识别和结合,从而将mRNA上的核糖体,带到膜上。SRP上有三个结合位点:信号肽识别结合位点,SRP受体蛋白结合位点,翻译暂停结构域。
形态特征
存在于细胞质中,是一种细长形的含RNA蛋白,由6条多肽链和一个7SRNA组成,具有信号肽识别结构域和与核糖体A位点结合的结构域。
生理功能
SRP既能识别露出核糖体之外的信号肽并与之结合,又能识别内质网膜上的SRP受体。通常SRP与核糖体的亲和力较低,但当游离核糖体合成信号肽后,它便增加了与核糖体的亲和力,并与之结合形成SRP-核糖体复合体,由于SRP占据了核糖体的A位点,使蛋白质合成暂时终止。
溶解反应性磷
SRP(Solubility Reactive Phosphorus)溶解反应性磷,环境生物学概念
“大学生研究计划”
“大学生研究计划”(SRP)已于2004年开始组织实施,该项目的实施对于帮助大学生获得科学研究的基本训练和研究技能,以及培养学生的创新意识、创业精神和创造能力具有重要意义,是国内众多高校加强大学生推动本科生进行学术研究的一项重要实践教学措施。
此活动旨在引导和激励高校学生实事求是、刻苦钻研、勇于创新、多出成果、提高素质,培养学生创新精神和实践能力,并在此基础上促进高校学生自主创业能力,发现和培养一批在学术科技上有作为、有潜力的优秀人才。
并无常设的全国性大赛,多是一些大学单独举办的校级比赛。
“扩展电阻剖面分布法”
扩展电阻剖面分步法(SRP),一种测量半导体材料中掺杂浓度分布的方法。同样用来测量半导体材料掺杂浓度分布的还有二次离子质谱(SIMS)法。
次级离子质谱secondary ion mass spectrometry, SIMS
20世纪70年代以来发展起来的一种表面分析技术。它是以离子轰击固体表面,再将从表面溅射出来的次级离子引入质量分析器,经过质量分离后从检测-记录系统得出被分析表面的元素或化合物的组分。
由于离子束射入固体表面时的穿透深度要比电子来得浅,所以次级离子法是一种有效的表面分析法。又由于离子的质量较大,因而原离子束与表面原子之间有较大的动能交换,使表面原子产生一定程度的溅射。只要采用低能量、低束流密度的原离子束,这种溅射效应对表面的破坏作用是能够减小到表面分析所允许的程度的。
按不同工作模式,次级离子质谱仪器可分为静态次级离子质谱计、动态次级离子质谱计、次级离子成像质谱计和次级离子微探测束。
静态次级离子质谱计是在超高真空条件下(10-8 ~10-9帕),用低束流密度(约1×10-9安/厘米2)和较大轰击面积(典型面积为0.1厘米2)的原离子束来轰击样品表面,使样品表面的消耗率降低到一个单层以下。这种仪器的检测器通常采用按脉冲计数方式工作的通道式电子倍增器。图1示出静态次级离子质谱计的原理。这种质谱计除了可作表面的单层检测外,还可用来研究气体与固体间的化学反应。
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