FT是什么测试

faint=晕倒，昏倒，表示又惊又无奈的心情。

补充：

FT测试就是Functional Test，功能测试，

是一种针对电器元件进行通电试验，以测试其是否可以正常工作的测试。和ICT，飞针，AOI，X-Ray不同，FT测试非常直观，能用就是能用，但不能用它也测试不出来问题所在。

封测应该是两道工序：封装和测试。 封装是把电路（die）用塑料封起来，外部只留接触的pin脚。 测试，也叫FT（final test）区别于WS(wafer sorting),目的是最后出厂时保证你这个产品的性能满足设计要求的。

半导体高压脉冲测试机原理是依据标准根据客户要求定制，考察被测产品在瞬间高压脉冲放电时的寿命。同时配有辅助的指针表指示电压，以便在设备断电时检查是否放电完成。脉冲测试是一种能够减少器件总能耗的测量技术。它通过减少焦耳热效应（例如I2R和V2/R），避免对小型纳米器件可能造成的损坏。脉冲测试采用足够高的电源对待测器件（DUT）施加间隔很短的脉冲，产生高品质的可测信号，然后去掉信号源。

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