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集成电路工艺中,多步退火过程中有(Dt)eff=D1t1+D2t2+...+Dntn,其物理意义就是要取得一定的扩散深度,可以采用多补退火(推进)的方式实现。上式左边的(Dt)eff就是热预算,其单位为cm^2,你可以任意搭配等式右边的式子,以完成热预算的要求。半导体器件中iso区是浅沟道隔离。能实现高密度的隔离,深亚微米器件和DRAM等高密度存储电路。在器件制作之前进行,热预算小,STI技术工艺步骤类似LOCOS,依次生长SiO2淀积Si3N4涂敷光刻胶,光刻去掉场区的SiO2和Si3N4。利用离子刻蚀在场区形成浅的沟槽。进行场区注入,再用CVD淀积SiO2填充沟槽,用化学机械抛光技术去掉表面的氧化层,使硅片表面平整化。工艺复杂,要回刻或者CMP。
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