半导体材料中的复合类型有哪些

半导体材料中的复合类型有哪些,第1张

新型无机非金属材料

高频绝缘材料

氧化铝、氧化铍、滑石、镁橄榄石质陶瓷、石英玻璃和微晶玻璃等

铁电和压电材料

钛酸钡系、锆钛酸铅系材料等

磁性材料

锰-锌、镍-锌、锰-镁、锂-锰等铁氧体、磁记录和磁泡材料等

导体陶瓷

钠、锂、氧离子的快离子导体和碳化硅等

半导体陶瓷

钛酸钡、氧化锌、氧化锡、氧化钒、氧化锆等过渡金属元素氧化物系材料等

光学材料

钇铝石榴石激光材料,氧化铝、氧化钇透明材料和石英系或多组分玻璃的光导纤维等

高温结构陶瓷

高温氧化物、碳化物、氮化物及硼化物等难熔化合物

超硬材料

碳化钛、人造金刚石和立方氮化硼等

人工晶体

铌酸锂、钽酸锂、砷化镓、氟金云母等

生物陶瓷

长石质齿材、氧化铝、磷酸盐骨材和酶的载体等

无机复合材料

陶瓷基、金属基、碳素基的复合材料

肖特基缺陷(Schottkydefect)是一种化合物半导体中的点缺陷。在化合物MX中,在T>0K时,由于晶格热振动,能量大的原子离开原格点进入晶格间隙或进入表面,或蒸发到外界,而失去原子的晶格位置即出现空缺生成空位以符号VM(或VX)表示。

空位是化合物半导体中常见的点缺陷之一。如果对一个按化学计量比组成的化合物MX晶体,在产生VM的同时,也产生数目相同的VX。此时产生的缺陷称肖特基缺陷,记作(VM VX)。空位可以是中性,也可带正电或负电。它对化合物半导体的导电性能有较大的影响。

特性:

一般来说,随着温度的升高,缺陷的浓度会增大。对于典型的离子晶体碱金属卤化物,其肖特基缺陷形成能较低,所以,肖特基缺陷主要存在于碱金属卤化物中,但只有高温时才明显,尚只有个别例外。对于氧化物而言,其离子性显然小于碱金属卤化物,所以它的肖特基缺陷形成能较高,只有在较高的温度下,它的肖特基缺陷才变得重要。


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