半导体特性曲线测试仪有什么用途

◆半导体特性曲线测试仪是用图示的方法来测量并显示半导体器件的伏安特性（即电压-电流特性）的仪器，在测量及选用半导体器件时有着广泛的用途：

①测量二极管的伏安特性，显示其反向击穿电压，饱和压降，不同电压下的等效电阻等；

②测量三极管、场效应管的伏安特性，显示其放大倍数，特性族曲线，线性工作区，饱和区，截止区特性等；

③测量非线性器件的动态特性，如单结管，晶闸管等。

可以,半导体具有在不同电压下电阻不同的特性1、半导体处于导通状态,电阻非常小但根据伏安特性是有电阻存在的2、半导体处于截止状态,电阻非常大但电压加到一定程度时可以出现击穿3、半导体处于临界状态,电阻值根据伏安特性是可以计算的综上所述：半导体是可以用伏安测试仪测电阻的,只是不同状态,不同电压,正负方向电阻是不同的,所以,销售半导体的厂商,产品手册上提供伏安特性表,是一个平面坐标系.

---