晶体电子的状态数目是有限的,其数目就等于k空间中一个原胞中代表点的数目;这个倒易空间的原胞就称为Bullouin区。
由于晶体电子是处于能带的状态。对于一个能带,每一个波矢k就代表该能带中电子的一种状态,对应有相应的一个能量本征值(一条能级)。而晶体有很多高低不同的能带,故一个k就对应于不同能带中的不同能级,即具有多个能量本征值。
所以,对于一个晶体电子所处的状态,需要指明它是属于哪一个能带、哪一个波矢k,这才是一种完整的表述。
霍尔系数的单位是米的三次方每库仑。——立方米/库仑(m3/C),霍尔元件应用的基本原理是霍尔效应。
霍尔效应是一种磁敏效应,一般在半导体薄片的长度X方向上施加磁感应强度为B的磁场,则在宽度Y方向上会产生电动势UH,这种现象即称为霍尔效应。UH称为霍尔电势,其大小可表示为: UH=RH/d*IC*B (1) 式中,RH称为霍尔系数,由半导体材料的性质决定;d为半导体材料的厚度。
规律
设RH/d=K,则式(1)可写为: UH=K*IC*B (2) 可见,霍尔电压与控制电流及磁感应强度的乘积成正比,K称为乘积灵敏度。
K值越大,灵敏度就越高;元件厚度越小,输出电压也越大。 在式(2)中,若控制电流IC,为常数,磁感应强度B与被测电流成正比,就可以做成霍尔电流传感器;另外,若仍固定IC为常数,B与被测电压成正比,又可制成霍尔电压传感器。
欢迎分享,转载请注明来源:内存溢出
评论列表(0条)