xps全谱图需要校吗

需要。

XPS的定性分析和价态分析都是基于光电子谱图中峰位置的能量值。为确保分析的准确性，XPS仪应定期（每工作几个月或半年）进能量校准。

校准方法：在实际的工作中，一般选用碳氢化合物(CH2)n中的污染峰C1s峰作参考进行调节，(CH2)n一般来自样品的制备处理及机械泵油的污染。

xps拟合后数据保存方法：

1将经过荷电校正的数据转换为“txt”格式文件,注意在“txt”文档中,第一行要直接以数据开始,最后一行也要以数据结束,不能有空行或其它文字,否则将无法导入XPSpeak 。

2在XPS peak软件中导入“txt”文件,在XPS peak界面选择 Data/Import(ASCII); 选择“XPSpeak-O1stxt”文件,即得到如下所示O1s的谱图。

3建立基准线。在Region窗口中,点击“Background”, 默认“High BE和Low BE”的数据不变,在“Background type”中选取Shirley,再通过输入“Shirley+Lineai”

4加峰点击Add peak选择合适的Peak Type(如s、p、d、f,峰类型的选择,不影响分峰),SOS选0。 在Position处输入希望的峰位,需固定时则点fix前小方框,同法还可设置半峰宽(FWHM)。

古代用黑曜石、金、银、水晶、铜、青铜,经过研磨抛光来制成镜子；公元前3000年，埃及已有用于化妆的古铜镜；公元 1世纪，开始有能照出人全身的大型镜；中世纪盛行与梳子同放在象牙或贵金属小盒中的便携小镜；12世纪末至13世纪初，出现以银片或铁片为背面的玻璃镜；文艺复兴时期威尼斯为制镜中心，所产镜子因质量高而负有盛名。

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