中心议题：讨论辐射发射产生的原因详细描述解决高速电路辐射发射超标的过程解决方案：使中频板停止工作，排除中频板产生干扰的可能使用SDRAM_CLK0作为SDRAM工作时钟采用关断干扰源 、减小高频电流幅

辐射发射（RE） 测试主要是测量受试设备对环境的电磁骚扰能量。由于现在的电子设备日益发展，周围的电子设备越来越多，电磁环境也越来越拥挤。RE测试的目的就是为了控制受试设备的电磁辐射，使其不对周围的电子

辐射发射（RE） 测试主要是测量受试设备对环境的电磁骚扰能量。由于现在的电子设备日益发展，周围的电子设备越来越多，电磁环境也越来越拥挤。RE测试的目的就是为了控制受试设备的电磁辐射，使其不对周围的电子

以下将全面介绍电磁骚扰辐射发射的测试方法。电磁骚扰发射（EMI）包括辐射发射（RE）和传导发射（CE）。辐射发射测试是测量受试设备（EUT）通过空间传播的骚扰辐射场强。传导发射测试是测量受试设备（EU

对于辐射测试来说，高频发射比较难解决，比如一些人为或者随机概率所造成种种谐振，而对于传导测试来说，低频发射比较难解决，特别是低频的近场耦合，那是特别顽固，对于这种问题我们应该如何解决，有哪几种办法，怎

摘  要：产品的电磁兼容性是工程设计人员在产品设计阶段必须考虑的问题，它不仅影响产品的性能，同时影响产品的稳定性。本文针对一TSV转接板及其芯片，使用Ansys的HFSS、Designer组件对其不同