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    高速自动测试设备的未来

    为了解决相关的质量和测试成本问题，正在研究新的测试设计（DFT）技术和其他测试方法。特别是AC扫描和内装自测试（BIST）环回技术，正在日益用于改善器件高速部分与定时有关的失效。    这些增强结构

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    2022-8-1
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