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基于NI平台的BMS电池管理系统HIL测试
作者:Sung-Up Hwang, ControlWorks“我们选择NI软硬件开发系统来缩短系统开发时间、保证系统可靠性、简化自动化测试方案的实施以及维护和维修。”用高压电池的模型、仿真的高电压电流
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硬件在环(HIL)测试系统对IO接口的选择
IO接口是构建成功硬件在环测试系统所必须的。硬件在环(HIL)测试系统体系结构教程讨论了多种硬件在环测试系统体系结构和用于实现的实时处理技术。多功能IO硬件在环测试系统需要多种模拟、数字和计数器