比色测温仪_内存溢出

技术

一种光纤比色测温仪设计方案

摘要：介绍一种基于DSP和MCU双处理器的内调制光纤比色测温仪的设计原理。测温仪以AT89C55和TMS320F206为核心，对内调制光电探测器进行线性补偿和温度补偿，并加入比辐射率的修正。本系统能够

快捷矩阵
2022-8-3
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