预测IC_内存溢出

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利用热分析预测IC的瞬态效应并避免过热

利用热分析预测IC的瞬态效应并避免过热本文提出了一种预测IC热性能的方法。这些信息对于汽车及其它高温环境下使用的PMIC (电源管理IC)尤为有用。通过分析热性能，我们设计了一种数学模型用于仿真芯片内

i5和i7的区别
2022-8-3
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利用热分析预测IC的瞬态效应并避免过热