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检测和诊断FinFET存储器具体缺陷和修复方法
同任何IP模块一样,存储器必须接受测试。但与很多别的IP模块不同,存储器测试不是简单的通过失败检测。存储器通常都设计了能够用来应对制程缺陷的冗余行列,从而使片上系统(SoC)良率提高到90%或更高。
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FinFET存储器的设计挑战以及测试和修复方法
同任何IP模块一样,存储器必须接受测试。但与很多别的IP模块不同,存储器测试不是简单的通过失败检测。存储器通常都设计了能够用来应对制程缺陷的冗余行列,从而使片上系统(SoC)良率提高到90%或更高。