在当今竞争激烈的形势下，使富含嵌入式软件的复杂电子设备更快面市，但是同时确保其更便宜更可靠，是一种相当冒险的做法。未经彻底测试的硬件设计不可避免地导致返工，增加设计成本并延长布局流程的网表交付时间，并

几年前，笔者在自动测试设备 (ATE) 领导者 Teradyne 工作时，经常会碰到一个根本性的两难抉择：在生产测试车间，是通过一件不合格的器件比较好，还是剔除一件合格器件比较好？显然，这两个都不是

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SoC时代的经济正在推动验证的革新。革新的关键特征是 SoC（片上系统）中的 “S”（系统）。虽然芯片已经变得更加复杂，但是用“复杂”来描述这场验证革新的关键驱动因素并不充分和准确。如今，芯片验证已经