20世纪90年代，传感器与微型电子记录仪组为一体的存储测试产品在国际上出现。存储测试技术是从七十年代开始的一种新的d上参数的测试方法，它是在不影响被测对象或影响在允许范围的条件下，在被测体内置入微型数

近日，在2018松山湖﹒中国IC创新高峰论坛中，来自苏州纳芯微电子（Novosense）首席执行官王升杨介绍了公司最新推出的物联网专用桥容式传感器调理芯片NSA（C）2862。王升杨表示，物联网发展

ADI公司 Power by Linear 科学专家Mark Thoren或者当 VREF 为 5V、两个输入都接地时，约为 1.67μA。图 1：LTC2484 的连接方式4-WIRE SPI IN