辐照损伤与_内存溢出

技术

DCDC辐照损伤与VDMOS器件1f噪声相关性研究

大量的研究表明，低频噪声除了与产品性能有关之外，还与产品质量和可靠性密切相关。国内外出现了一系列使用低频噪声特别是1f噪声表征器件可靠性的方法，这些器件不仅包括二极管、三极管、MOS管、厚膜电阻、薄

衍生产品
2022-8-4
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DCDC辐照损伤与VDMOS器件1f噪声相关性研究