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超越CMOS量测技术在持续发展
目前纳米器件被认为有可能替代常规半导体,其主要问题是它的接触问题。研究的材料和结构显然超出了CMOS范围,如果要继续满足对器件性能不断提高的要求,量测技术允许工程师观察和记录接触和分子之间(无论研究任
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LED材料特性检测技术——PL技术
前言近年来,由于白光LED无论在发光效率、功耗、寿命和环保等方面都具备传统光源无法比拟的优势,使得白光LED逐渐取代白炽灯泡和日光灯,又随着各国政府纷纷宣布并提出禁用白炽灯泡的时间表,更加加速了这个趋