DS317x_内存溢出

技术

DS317x与DS318x T3E3STS-1 LIU回

摘要：本应用笔记讨论了如何测量并改善DS317x和DS318x LIU收发器上的回波损耗。对标准测试设置的改进使得T3E3收发器和内置LIU的ATM分组PHY可得到满足行业标准规范的回波损耗。

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2022-8-5
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DS317x与DS318x T3E3STS-1 LIU回