很多系统开发人员喜欢使用完全集成式“智能传感器”，因为这些器件通常可方便地给出数字输出，对于偶尔使用的用户来说可以规避乏味的模拟电路设计挑战所带来的风险。虽然避开模拟电路设计问题的动机可以理解，但系统

欠采样或违反奈奎斯特(Nyquist)准则是 ADC 应用上经常使用的一种技术。射频(RF)通信和诸如示波器等高性能测试设备就是其中的一些实例。在这个“灰色”地带中经常出现一些困惑，如是否有必要服从