激光z扫描_内存溢出

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基于高速AD的激光z扫描高频信号幅值测量系统

基于高速AD的激光z扫描高频信号幅值测量系统0 引言Z扫描是一种应用于光学非线性测量的方法，使用这种方法可以测量光学材料非线性折射率的大小、正负以及非线性吸收系数。因为通过光学材料的激光能量大小与

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2022-8-5
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基于高速AD的激光z扫描高频信号幅值测量系统