散粒噪_内存溢出

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短沟道MOSFET散粒噪声测试方法研究

短沟道MOSFET散粒噪声测试方法研究近年来随着介观物理和纳米电子学对散粒噪声研究的不断深入，人们发现散粒噪声可以很好的表征纳米器件内部电子传输特性。由于宏观电子元器件中也会有介观或者纳米尺度的结构，

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2022-8-5
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短沟道MOSFET散粒噪声测试方法研究