测试负载_内存溢出

技术

利用ATE（自动测试设备）测试电源负载的数字可编程精密电阻

图1所示的数字可编程精密电阻可在定制设计的 ATE（自动测试设备）中用作微处理器驱动的电源负载。IC1 是一个 8 位电流输出型 DAC，即DAC08型DAC ，它驱动电流-电压变换器 IC2A，I

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2022-8-5
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利用ATE（自动测试设备）测试电源负载的数字可编程精密电阻