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PDAF
技术
安森美半导体展示能在微光使用的快速自动对焦技术
2015年2月27日 - 推动高能效创新的安森美半导体 (ON Semiconductor,美国纳斯达克上市代号:ONNN) 已成功示范其第二代相位检测自动对焦 (PDAF) 技术以独特的像素微镜技术
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