脉冲产生器_内存溢出

技术

半导体特性分析仪和脉冲产生器测量电荷泵

电荷泵技术概述电荷泵测量方法广泛应用于MOSFET元件的介面态密度测量。随着高介电常数(高)闸极材料的发展，已证明电荷泵对高薄闸极薄膜中电荷陷阱现象的测量极为有效。可以採用电荷泵测量方法来撷取介面陷阱

雪月风花
2022-8-6
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半导体特性分析仪和脉冲产生器测量电荷泵