半导体探针卡（Probe Card）产业，过去受限于其陶瓷材料上的微细孔须以机械加工方式钻孔，不但良率低、且因工时长而成本高昂，如果当中任一细孔损坏，一切的作业便需要重新来过。国内新创厂商米雷迪恩推出

存储器件持续不断的降价压力要求降低测试成本。很多公司通过同时测试更多的器件来提高吞吐率。过去的几年里，测试探针卡的发展允许平行测试更多的器件——同时可测的待测器件(DUT)数量从32到64到128不断