测试信号_内存溢出

技术

半导体参数测试的关键问题之一：探针的接触电阻

通常，参数测试系统将电流或电压输入被测器件（DUT），然后测量该器件对于此输入信号的响应。这些信号的路径为：从测试仪通过电缆束至测试头，再通过测试头至探针卡，然后通过探针至芯片上的焊点，到达被测器件，

法宝合成位置
2022-8-7
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半导体参数测试的关键问题之一：探针的接触电阻