ft245r_内存溢出

技术

基于FT245R芯片的存储测试系统USB接口的设计

0 引言存储测试是指在对被测对象无影响或在允许范围的条件下，在被测体内置入微型数据采集与存储测试仪，现场实时完成信息的快速采集与记忆，然后回收记录仪，由计算机处理和再现测试信息的一种动态测试技术。经过

英语资料
2022-8-9
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基于FT245R芯片的存储测试系统USB接口的设计