EyeDoctorII_内存溢出

技术

利用新一代虚拟探测功能实现DDR等信号去嵌测试

一、内存测试中的难点内存广泛应用于各类电子产品中，内存测试也是产品测试中的热点和难点。内存测试中最为关键的测试项目为DQDQSCLK之间的时序关系。JEDEC规范规定测量这几个信号之间的时序时测试

太阳黑子
2022-8-10
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利用新一代虚拟探测功能实现DDR等信号去嵌测试