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MEMS开关
技术
使用新型MEMS开关加快测试能力并提高系统产出
【导读】先进的数字处理器IC要求通过单独的DC参数和高速数字自动测试设备(ATE)测试,以达到质保要求。这带来了很大的成本和组织管理挑战。本文介绍 ADGM1001 SPDT MEMS开关如何助力一次
南京联通宽带
2022-10-22
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