芯片如何进入testmode

芯片进入testmode的方法：

1、比较特殊的芯片要单独区分出来。

2、通过配置管脚使芯片进入指定的测试状态，从而完成各个类型的测试。ATPG可输出WGL或STIL格式文件供Tester使用。

集成电路缩写ICIntegratedCircuit缩写，集成电路ICDSICDesignService缩写，芯片设计服务IPIntellectualProperty缩写,知识产权，在芯片设计中指对某种设计技术的专利SoCSystemonChip缩写,指单芯片系统设计，是当今混合信号IC设计的趋势ASICApplicationSpecialIntegratedCircuit缩写,指专用集成电路VLSIVeryLargeScalIntegratedcircuit缩写,指超大规模集成电路DSPDigitalSignalProcessing缩写,指数字信号处理RFRadiationFrequency缩写,指发射频率，简称射频FPGAFieldProgrammableGateArray缩写,指现场可编程门阵列CPLDComplexProgrammableLogicDevice,即复杂可编程器件。FEFrontEnd缩写,前端，通常指IC设计中的前道逻辑设计阶段，并不是规范化用法BEBackEnd缩写,后端，通常指IC设计中的后道布局布线(Layout)阶段，并不是规范化用法MPWMultipleProjectWafer缩写,多项目晶圆投片，指在同一种工艺的不同芯片放在同一块晶圆(Wafer)上流片，是小公司节省成本的有效手段EDAElectronicDesignAutomation缩写,电子设计自动化，现在IC设计中用EDA软件工具实现布线，布局VHDLVHSIC(VeryHighSpeedIC)HardwareDescriptionLanguage缩写,硬件描述语言，用于实现电路逻辑设计的专用计算机语言RTLRegisterTransformationLevel缩写,寄存器传输级Netlist门级网表，一般是RTLCode经过综合工具综合而生成的网表文件Foundry指芯片制造加工厂的代工业务，负责将设计完成的芯片生产出来DFTDesignForTest缩写,为了增强芯片的可测性而采用的一种设计方法STAStaticTimingAnalysis缩写,即静态时序分析CADComputerAidedDesign缩写,即计算机辅助设计NRENonRecuuringEngineering缩写,不反复出现的工程成本BISTBuildinsystemtest,即内建测试系统ASSPApplication-specificstandardproduct缩写，一种有着广泛应用范围的ASIC芯片RISCReducedInstructionSystemComputer缩写LVSLayoutversusSchematic缩写，是在ICDesign经过Layout后检查其版图与门级电路是否一致DRCDesignRuleCheck缩写,是在ICDesign经过Layout后检查其版图是否符合设计规则ERCElectronicRuleCheck缩写,是在ICDesign经过Layout后检查其版图是否符合电气规则OPCOpticalandProcessCorrection缩写，即光刻工艺修正ATPGAutoTestPatternGenerator缩写,是一个测试向量自动生成工具，生成的测试向量会给测试厂作测试芯片用LVDSLowVoltageDifferentialSignaling缩写,是一种低摆幅的差分信号技术，它使得信号能在差分PCB线对或平衡电缆上以几百Mbps的速率传输，其低压幅和低电流驱动输出实现了低噪声和低功耗ADCAnalogtoDigitalConvert缩写,一般用作模拟信号到数字信号的转换电路DACDigitaltoAnalogConvert缩写,一般用作数字信号到模拟信号的转换电路PLLPhaseLockedLoop缩写,一般用作时钟倍频电路

模拟的 Cadence 的 界面 忘了叫什么名字 比较好用 仿真 spice ultrsim 如果混仿还有其他

比较好用 版图 lvs drc工具老得用dracurle（不拼写）

Synopsys 界面orcad 的capture 仿真hspice

版图还有ledit

---