开短路测试(又称OPEN/SHORT 测试,O/S测试,continuity test 或contact test),主要是用于测试电子器件的连接情况,顾名思义,开短路测试就是测试开路与短路,具体点说就是测试一个电子器件应该连接的地方是否连接,如果没有连接上就是开路,如果不应该连接的地方连接了就是短路。通常都会被放测试程序的最前面。
2.输出高低电平(VOH/VOL)测试
VOH/VOL测试的目的是检查器件在指定电压下输出电流的能力。输入端在施加规定的电平信号下,使输出端位逻辑高/低电平时的电压。VCC通常位规定范围的最小值,测试使用IFVM(加恒流测电压)方式,对于VOH测试,在输出端抽取规定范围的IOH,其余输出端开路,同时测量该输出端的电压VOH。同理对于测量VOL时候,抽取IOL,测量到的电压就为VOL。这两个参数的测试主要时检查器件的抗干扰能力。
3.输入高/低(IIH/IIL)电流测试
输入端在输入规定的电压值VIH/VIL时候,测量到流入输入端的电流值IIH/IIL。目的是检查DUT的输入负载特性。这个参数主要时验证器件接受逻辑值1和0的能力。
4.输入漏电流II测试
所谓泄漏电流是指在没有故障施加电压的情况下,电气中带相互绝缘的金属零件之间,或带电零件与接地零件之间,通过其周围介质或绝缘表面所形成的电流称为泄漏电流。输入端在输入最大电压VL时流入被测试器件的电流。VCC设定为规范中的最大值。和测量输入高低电流方法一样,只是加压和测量的电流值不一样。其余输入端加规定电平。输出端开路。IL用于检查器件的扇入负载的特性。泄漏电流实际上就是电气线路或设备在没有故障和施加电压的作用下,流经绝缘部分的电流。因此,它是衡量电器绝缘性好坏的重要标志之一,是产品安全性能的主要指标。检测的意义在于判断产品耐高压的安全性。
5.输出短路电路IOS测试(output short circuit current test)
输出短路电流(IOS),顾名思义,就是输出端口处于短路状态时的电流。
6.输出高阻电流(IOZH/IOZL)
IOZL指的是一个低电平施加在一个处于高阻态的输出管脚上,管脚上产生的漏电流,与之类似,IOZH指的是一个高电平施加在一个处于高阻态的输出管脚上,管脚上产生的漏电流。
7.电源电流测试
电源电流测试包括IDD总电流测试(IDD Gross Current),IDD静态电流测试(IDD static Current),IDDQ测试,动态IDD测试(Dynamic Current)。在输入端施加规定的电平使输出端为逻辑高高电平,此时流经器件电源输入端的电流为ICCH,同理当输出端表现为逻辑低电平时,对应为ICCL。此测量用于检查器件的功耗。
欢迎分享,转载请注明来源:内存溢出
评论列表(0条)