故障类别
故障号码
描 述
P14
138
于白色阴影补偿中检测到故障
P14
170
即使读入脉冲电机的停止是由传感器的检测所决定的，其停止位念搭置与预设位置不想符合。（GA控制故障）
P15
4
P15
110
ABC（背景自动控制）超时。原稿未能从ADF单元上ABC扫描位置进行移动。
P15
111
向ADF单元发出指令时没有24V电压供应到ADF单元。
P15
130
当命令信号从机器送往ADF单元后，收到ADF单元的超时故障。
P15
131
机器接收到来自ADF单元一项不明确的指令。
P15
132
机器检测到来自ADF单元一项通讯连续故障。
P15
133
机器与ADF单元发生通讯故障。（ACK或NAK故障）
P15
134
于设定时间内，机器不能向ADF单元发送指令。
P15
160
当ADF单元进行运作时，ADF单元无检测信号。
P17
20
未连接纸圈计数器。
P18
531
即使当印刷滚筒锁定线圈启动100毫秒内，印刷滚筒锁定传感器仍为启动状态
P19
207
当热敏压力电机启动向减压方向运作2秒内，或于初始定位运作中，TPH压力传感器未能切换到闭合状态。
P19
208
当热敏压力电机启动向减压方向运作2秒内，TPH压力传感器未能切换到启动状态。
P19
216
当热敏压力电机启动向增压方向运作500毫秒内，TPH压力传未能切换到闭合状态。
P19
217
当热敏压力电机启动向增压方向运作2秒内，TPH压力传感器未能切换到启动状态。
P20
415
当排纸跳习电机启动从初始位置向时逆时针方向转动7000毫秒内，排纸跳巽初始传感器未切换到闭合状态。
P20
416
排纸跳巽电机内检测出电流过载。
P20
437
当排纸电机启动后10毫秒内，排纸编码盘传感器的状态仍未改变。
P24
539
当供墨电机启动后20毫秒内，供墨电机编码盘仔租拿传感器状态仍未改变。
P25
26
当开启机器电源时锂电池的电压值低于2.3V，（电量不足，更换锂电池）。
P92
570
当印刷滚筒电路板上的EEPROM正在读取数据时，印刷滚筒从机器中被释放。
P93
932
当读取网络界面卡时，NET-C网络界面卡无信息传回。
P94
59
SH-电路板传出的机身编号资讯未能与MCTL电路板机身编号资讯相吻合。
P96
171
未输入TPH电阻值。
P96
172
未完成扫描器调整。
P96
433
未完成纸张尺寸宽度电位计测试模式设定。
故障类别
故障号码
描 述
P96
569
未输入印刷滚筒颜色信息或油墨分类信息。
P96
613
印刷压力数据丢失。
P98
2
于开启机器电源时，即使Rosa连接信号启动，无加应。
P98
5
硬件故障
P98
6
FRAM校验和故障
P98
7
Mini-Rosa PCB未接驳。
P98
38
EEPROM上的机器数据与SH-PCB上的机器数据不相匹配。
P98
39
SH-PCB上EEPROM不适合中。
P98
46
DIMM容量不符
P98
51
接触面板型告通讯故障。
P98
53
未能成功读取各项存储设定值（程序、模式和客户用纸）。
P98
54
未能成功写入各项存储设定值（程序、模式和客户用纸）。
P98
55
SH-PCB上的机型代码未能与H8-PCB上的机型代码相吻合。
P98
63
测试模式内存储的设定值超出其可调整的范围。
P98
64
一个未经定义的指令传入到SH-PCB和MCTL-PCB之间进行连接通讯。
P98
65
SH-PCB和MCTL-PCB之间发生连接通讯故障01。（MCTL-PCB侧）
P98
66
SH-PCB和MCTL-PCB之间发生连接通讯故障02。（MCTL-PCB侧）
P98
67
SH-PCB和MCTL-PCB之间发生连接通讯故障03。（MCTL-PCB侧）
P98
68
SH-PCB和MCTL-PCB之间发生连接通讯故障04。（MCTL-PCB侧）
P98
69
SH-PCB和MCTL-PCB之间发生连接通讯故障05。（MCTL-PCB侧）
P98
70
SH-PCB和MCTL-PCB之间发生连接通讯故障06。（MCTL-PCB侧）
P98
71
SH-PCB和MCTL-PCB之间发生连接通讯故障07。（MCTL-PCB侧）
P98
72
SH-PCB和MCTL-PCB之间发生连接通讯故障08。（MCTL-PCB侧）
P98
73
SH-PCB和MCTL-PCB之间发生连接通讯故障09。（MCTL-PCB侧）
P98
74
SH-PCB和MCTL-PCB之间发生连接通讯故障10。（SH-PCB侧）
P98
75
SH-PCB和MCTL-PCB之间发生连接通讯故障11。（SH-PCB侧）
P98
76
SH-PCB和MCTL-PCB之间发生连接通讯故障12。（SH-PCB侧）
P98
77
SH-PCB和MCTL-PCB之间发生连接通讯故障13。（SH-PCB侧）
检验方法：
平稳序列I(0)，一阶差分I(-1)，仍然是平稳的，ADFtest仍然会拒绝原假设。这个现象叫做overdifferencing。
不能因为一阶差分是平稳的就确定原序列是非平稳的。你可能overdifference了。我说作者可能是用EVIEWS，因为他原文我找到了，看他画那几个图，挺像是EVIEWS做的。至于他到底是用MATLAB,R,OX,还是STATA无所谓的。
t统计量比ADF的1%的（套，希腊字母）还要小，所以拒绝零假设，零假设为：存在单位根。拒绝零假设就是拒绝存在单位根咯（拒绝非平稳）。
这里得出非平稳的结论，可能在做ADF检验时候用的是一阶差分，所以得出一阶差分平稳，那么原序列当然是非平稳的咯。
扩展资料：
ApplicationDevelopmentFramework
(ApplicationDevelopmentFramework)是Oracle公司为简化J2EE程序开发的复杂性专门开发的一种解仔族决方案。
ADF通过减少实现设计模式和应用程序框架的代码量，简化了J2EE的研发难度。其优点主要体现在以下四个方面:
(1) 开发环境:大部分J2EE框架都没有与之配套的开发工具，ORACLE为ADF提供了JDEVELOPER开发工具，它和ADF实现了完美的结合，方便了程序的开发。
(2)平台独立:ADF能够运行在任何符合J2EE标准的应用服务器上。
(3)技术选择:对于应用程序的不同层，开拦衫发人员可以使用自己擅长的技术进行开发。
(4)端到端的解决方案:ADF不只关注应用程序的某一层，而是对应用程序的每一层，都提供了完整的解决方案。
ADF检验
ADF检验（AugmentedDickey-Fullertest）是Eviews软件中一种检查序列平稳性的单位根检验方法。ADF检验的输出结果包括检验滞后变量系数的ADF统计量和检验所需的临界值（1%，5%，10%）。
如果系数显著不为零，实为小于零，那么包含单位根的假设将被拒简戚腔绝，从而接受备择假设平稳。
参考资料来源：百度百科-adf
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