用万用表怎么测量二极管三机管可控硅的好坏

万用表二极管档。
1，二极管。正向导通，反向截止，导通数值为二极管压降（MV）
2，三极管。以某个脚为基点，了两边都导通为基极，之后根据压降判断集电极和发射级，一般发射结电压小。
3可控硅，先判断哪个脚位控制端，导通的一脚接红表笔的，为控制端，另一脚为阴极，剩下的阳极，把红表笔接阳极，黑表笔接阴极，之后在不断开阳极的前提下用控制极触碰阳极，之后如导通及正常

1、使用数字万用表检查可控硅

数字万用表拨至二极管挡，红表笔接某一电极，黑表笔分别 接触另外两个电极。如果其中有一次显示电压为零点几伏， 则此时红表笔接的是控制极G，黑表笔接的是阴极K，余下 的则是阳极A。假如两次都显示溢出，说明红表笔接的不是 控制极，需更换电极重测。

测试可控硅的触发能力数字万用 PNP挡，此时 hFE 插口上的两个 带负电，电压为28V。可控硅的三个电极各用一根导线引出，阳极A、阴极K 引线分别插人E 孔，控制极G悬空。 此时可控硅关断，阳极电流为零，将显示 000。把控制极 插人另一个E孔。

显示值将从000 开始迅速增加，直到显示 溢出符号后，立即又变成 000，然后再次从 000 变到溢出， 这样周而复始。采用此法可确定可控硅的触发是否可靠。但 这样的测试由于电流较大，应尽量缩短测试时间。必要时也可在可控硅的阳极上串一只几百欧的保护电阻。如果使用 NPN 挡，可控硅阳极A 应接C 孔，阴极K 孔，以保证所加的是正向电压。

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一、可控硅：

可控硅(Silicon Controlled Rectifier) 简称SCR，是一种大功率电器元件，也称晶闸管。它具有体积小、效率高、寿命长等优点。在自动控制系统中，可作为大功率驱动器件，实现用小功率控件控制大功率设备。它在交直流电机调速系统、调功系统及随动系统中得到了广泛的应用。

可控硅分单向可控硅和双向可控硅两种。双向可控硅也叫三端双向可控硅，简称TRIAC。双向可控硅在结构上相当于两个单向可控硅反向连接，这种可控硅具有双向导通功能。其通断状态由控制极G决定。在控制极G上加正脉冲(或负脉冲)可使其正向(或反向)导通。这种装置的优点是控制电路简单，没有反向耐压问题，因此特别适合做交流无触点开关使用。

二、测量方法：

鉴别可控硅三个极的方法很简单，根据P-N结的原理，只要用万用表测量一下三个极之间的电阻值就可以。

阳极与阴极之间的正向和反向电阻在几百千欧以上，阳极和控制极之间的正向和反向电阻在几百千欧以上（它们之间有两个P-N结，而且方向相反，因此阳极和控制极正反向都不通） [1]  。

控制极与阴极之间是一个P-N结，因此它的正向电阻大约在几欧-几百欧的范围，反向电阻比正向电阻要大。可是控制极二极管特性是不太理想的，反向不是完全呈阻断状态的，可以有比较大的电流通过，因此，有时测得控制极反向电阻比较小，并不能说明控制极特性不好。另外，在测量控制极正反向电阻时，万用表应放在R10或R1挡，防止电压过高控制极反向击穿。

若测得元件阴阳极正反向已短路，或阳极与控制极短路，或控制极与阴极反向短路，或控制极与阴极断路，说明元件已损坏。

可控硅是可控硅整流元件的简称，是一种具有三个PN结的四层结构的大功率半导体器件。实际上，可控硅的功用不仅是整流，它还可以用作无触点开关以快速接通或切断电路，实现将直流电变成交流电的逆变，将一种频率的交流电变成另一种频率的交流电，等等。

可控硅和其它半导体器件一样，其有体积小、效率高、稳定性好、工作可靠等优点。它的出现，使半导体技术从弱电领域进入了强电领域，成为工业、农业、交通运输、军事科研以至商业、民用电器等方面争相采用的元件。

参考资料：

百度百科可控硅

用万用表即可判断双向可控硅的好坏，但具体参数测不出来。

用万用表测量的方法如下：

1、T2极的确定：用万用表R1档或R100档，分别测量各管脚的反向电阻，其中若测得两管脚的正反向电阻都很小（约100欧姆左右），即为T1和G极，而剩下的一脚为T2极。

2、T1和G极的区分：将这两极其中任意一极假设为T1极而另一极假设为G极，万用表设置为R1档，用两表笔（不分正负极）分别接触已确定的T2极和假设的T1极，并将接触T1的表笔同时接触假设的G极，在保证不断开假设的T1极的情况下，断开假设的G极，万用表仍显示导通状态。

3、将表笔对换，用同样的方法进行测量，如果万用表仍然显示同样的结果，那么所假设的T1极和G极是正确的。如果在保证不断开假设的T1极的情况下，断开假设的G极，万用表显示断开状态，说明假设的T1和G极相反了，从新假设再进行测量，结果一定正确。

如果测量不出上述结果，说明该双向可控硅是坏的。这种方法虽然不能测出具体参数，但判断是否可用还是可行的。

扩展资料

两极双向可控硅使用需有条件：

（1）外加电压下允许超过正向转折电压，否则控制极将不起作用。

（2）可控硅的通态平均电流从安全角度考虑一般按最大电流的15~2倍来取。

（3）为保证控制极可靠触发，加到控制极的触发电流一般取大于其额值，除此以外，还必须采取保护措施，一般对过流的保护措施是在电路中串入快速熔断器，其额定电流取可控硅电流平均值的15倍左右，其接入的位置可在交流侧或直流侧，当在交流侧时额定电流取大些。

一般多采用前者，过电压保护常发生在存在电感的电路上，或交流侧出现干扰的浪涌电压或交流侧的暂态过程产生的过压。由于，过电压的尖峰高，作用时间短，常采用电阻和电容吸收电路加以抑制。

参考资料来源：百度百科-双向可控硅

参考资料来源：百度百科-万用表

这是一个平板型的可控硅。要判断它的好坏有两种方法：
一种把它拿到晶体管特性图示仪或其它专用仪器上进行测量，进而判断其好坏；另一种是简单地用万用表进行判断。
用万用表判断时先将万用表的两只表笔接可控硅的两个端面，电阻应呈无穷大（表针基本不动），再将表笔反过来亦如此。若这两步测量时电阻很小，则说明该可控已损坏。否则进行如下测量：再将黑表笔（表内电池+）接控制极（中间的引出线），红表笔（表内电池-）接阳极（离控制极较远的一个端面），此时应呈现很大的电阻，然后将表笔反过来测量，电阻值仍应呈现很大（表针基本不动），然后将黑表笔（表内电池+）接控制极（中间的引出线），红表笔（表内电池-）接阴极（离控制极（中间的引出线）较近的一个端面），此时应呈现几十~上百欧姆电阻，然后将表笔反过来测量，电阻值应比上次测量稍大（可能区别不明显）。测试结果若如上所述，则说明可控硅是好的，否则可控硅已损坏。
中间的小坑是安装时定位用的无特殊用途。
希望能对你有帮助。

单向可控硅用万用表测量好坏
用电阻x1k档，正、反向测量A、K之间的电阻值，均接近无穷大；用电阻x10Ω档测量G、K之间的电阻，从十几欧姆至百欧姆，功率越大欧姆值越小。

正、反向电阻值相等或差异极小。说明可控硅的G、K并不像一般三极管的发射结，有明显的正、反向电阻的差异。
这种测量方式是有局限性的，当A、K之间已呈故障开路状态时，则无法测出好坏。有的G、K间电阻值极小，也难以判别两控制极是否已经短路
如阴极A接黑表笔，阴极K接红表比时，万用表的指针发生偏转，就说明这单向可控硅已经遭到损坏。

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