mos在控制器电路中的工作状态。开通过程(由截止到导通的过渡过程),导通状态,关断过程(由导通到截止的过渡过程),截止状态,还有一非正常状态,击穿状态(小能量电流脉冲往往是可恢复击穿,即mos不会损坏)。
Mos主要损耗也对应这几个状态,开关损耗(开通过程和关断过程),导通损耗,截止损耗(漏电流引起的,这个忽略不计),还有雪崩能量损耗。只要把这些损耗控制在mos承受规格之内,mos即会正常工作,超出承受范围,即发生损坏。而开关损耗往往大于导通状态损耗(不同mos这个差距可能很大),尤其是pwm没完全打开,处于脉宽调制状态时(对应电动车的起步加速状态),而最高急速状态往往是导通损耗为主。
Mos损坏主要原因:过流,大电流引起的高温损坏(分持续大电流和瞬间超大电流脉冲导致结温超过承受值);过压,源漏级大于击穿电压而击穿;栅极击穿,一般由于栅极电压受外界或驱动电路损坏超过允许最高电压(栅极电压一般需低于20v安全)以及静电损坏。
MOS值是衡量通信系统话音质量的一个重要指标。
目前,MOS测试DT的方法主要是通过语音盒单元连接手机主叫的语音链路。所述通话手机的下行MOS值是通过所述通话手机发送标准语音波形实现的,所述通话手机通过网络到达。
将接收到的波形与发射出的波形进行比较计算,得到下行MOS,上行MOS是相反的过程。对于主叫手机的下行MOS值也为被叫手机的上行,因此主、被叫手机的MOS值是一样的。
影响MOS的主要因素:
由于PESQ算法考虑了整个信号传输过程的中断和衰减,而不仅仅是空气接口部分,影响MOS的主要因素有:语音编码方案(AMR、HR、FR或EFR)、Abis传输、Abis压缩、不连续传输(DTX)、C/I、开关频率和质量(RxQual)。对MOS等的影响。
目前影响MOS水平的最重要因素是语音编码方案,其次是频繁切换、LAPD压缩和质量(RxQual)。总之,在目前语音编码不变的前提下,合理控制过覆盖,减少频繁切换,尽力提高网络质量(RxQual),从而提高部分MOS的水平。
扩展资料:
在国际标准中,统一使用MOS值来评价系统接收到的压缩语音质量:5优;4好;3可以接受;2差;糟糕,非常类似于俄罗斯教育系统的5分制。
如果我们衡量一个清晰的声音所需要的注意力的程度:5点是在没有注意力的情况下听;4 要点是需要一点注意听;3点是需要一定的注意力去听;2 需要相当注意的是很少听到;第一点是注意力很难被听到。
在MOS值语音质量评价方法中,将有线电话的语音质量标准设置为4点。如果使用一种算法来压缩语音,对于没有经过专门训练的耳朵来说,是不可能区分语音是否被压缩的。结果表明,语音质量已达到有线电话的水平,表明语音质量已达到4个点。
在实际网络中,无线语音MOS值为25-4点。语音MOS值测量有专门的MOS测试仪。一些设备制造商正在寻找网络端BLER与终端端的MOS测量之间的关系,预测和分析网络端的语音MOS值,从而达到测量语音质量而不是MOS测试仪的目的。
参考资料:
百度百科-平均主观意见分
MOS电路中应用最广泛的为CMOS电路,CMOS数字电路中,应用最广泛的为4000、4500系列,它不但适用于通用逻辑电路的设计,而且综合性能也很好,它与TTL电路一起成为数字集成电路中两大主流产品。CMOS数字集成电路电路主要分为4000(4500系列)系列、54HC/74HC系列、54HCT/74HCT系列等,实际上这三大系列之间的引脚功能、排列顺序是相同的,只是某些参数不同而已。例如,74HC4017与CD4017为功能相同、引脚排列相同的电路,前者的工作速度高,工作电源电压低。4000系列中目前最常用的是B系列,它采用了硅栅工艺和双缓冲输出结构。
Bi-CMOS是双极型CMOS(Bipolar-CMOS)电路的简称,这种门电路的特点是逻辑部分采用CMOS结构,输出级采用双极型三极管,因此兼有CMOS电路的低功耗和双极型电路输出阻抗低的优点。
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