[多项选择题] BSC整体性能测量话统中的出现较多的指配失败次数(设备故障)可能的原因包括()
A.GMC2单板问题
B.GOPT单板问题
C.GLAP单板问题
D.GFBI单板问题
正确答案:A, B, D
欢迎分享,转载请注明来源:内存溢出
[多项选择题] BSC整体性能测量话统中的出现较多的指配失败次数(设备故障)可能的原因包括()
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B.GOPT单板问题
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